[发明专利]物理量测量装置以及物理量测量方法有效

专利信息
申请号: 201380006837.0 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN104081161A 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 北浦崇弘;御子柴宪彦 申请(专利权)人: 旭化成微电子株式会社
主分类号: G01D3/028 分类号: G01D3/028;G01C17/32;H03H21/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种响应性好且能够高效地去除从物理量信号输出装置输出的信号所包含的噪声成分来进行高精度的物理量测量的物理量测量装置以及物理量测量方法。本发明的物理量测量装置(20)根据从物理量信号输出装置(21)输出的基于物理量的信号来测量物理量。校正信号输出部(33)根据在某个测定时刻得到的基于物理量的信号、在测定时刻之前得到的校正信号以及滤波器系数来输出新的校正信号。大小关系判定部(31)判定基于物理量的信号与在测定时刻之前得到的校正信号的大小关系。第一滤波器系数输出部(32)基于多个上述大小关系来输出第一滤波器系数。
搜索关键词: 物理量 测量 装置 以及 测量方法
【主权项】:
一种物理量测量装置,具备根据从物理量信号输出装置输出的基于物理量的信号来运算物理量的物理量运算装置,该物理量测量装置的特征在于,上述物理量运算装置具备:变动状态估计部,其估计上述物理量信号输出装置所检测的物理量的变动状态;滤波器系数输出部,其基于由该变动状态估计部估计出的变动状态来决定滤波器系数并输出该滤波器系数;以及校正信号输出部,其基于由该滤波器系数输出部输出的滤波器系数以及从上述物理量信号输出装置输出的输出值,来输出该输出值的校正值。
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