[发明专利]物理量测量装置以及物理量测量方法

权利要求书

1.一种物理量测量装置，具备根据从物理量信号输出装置输出的基于物理量的信号来运算物理量的物理量运算装置，该物理量测量装置的特征在于，

上述物理量运算装置具备：

变动状态估计部，其估计上述物理量信号输出装置所检测的物理量的变动状态；

滤波器系数输出部，其基于由该变动状态估计部估计出的变动状态来决定滤波器系数并输出该滤波器系数；以及

校正信号输出部，其基于由该滤波器系数输出部输出的滤波器系数以及从上述物理量信号输出装置输出的输出值，来输出该输出值的校正值。

2.根据权利要求1所述的物理量测量装置，其特征在于，

上述变动状态估计部具有：

第一变动状态估计部，其基于在多个测定时刻得到的物理量的分布状态来估计物理量的变动状态；以及

第二变动状态估计部，其根据在某个测定时刻得到的基于物理量的信号以及在接近该测定时刻的测定时刻得到的基于物理量的信号，来估计物理量的变动状态，

上述滤波器系数输出部基于由上述第一变动状态估计部或上述第二变动状态估计部估计出的物理量的变动状态来决定滤波器系数并输出该滤波器系数。

3.根据权利要求2所述的物理量测量装置，其特征在于，

上述第二变动状态估计部具有判定物理量的变动量是否小于规定的阈值的变动状态判定部，上述第一变动状态估计部根据来自上述变动状态判定部的判定结果，基于上述在多个测定时刻得到的物理量的分布状态来估计物理量的变动状态。

4.根据权利要求2或3所述的物理量测量装置，其特征在于，

上述滤波器系数输出部具有：

第一滤波器系数输出部，其基于上述第一变动状态估计部来输出第一滤波器系数；第二滤波器系数输出部，其基于上述第二变动状态估计部来输出第二滤波器系数；以及滤波器系数选择部，其选择上述第一滤波器系数和上述第二滤波器系数中的某一方作为上述滤波器系数。

5.根据权利要求1所述的物理量测量装置，其特征在于，

上述校正信号输出部根据在某个测定时刻得到的基于物理量的信号、在上述测定时刻之前得到的校正信号以及滤波器系数，来输出新的校正信号，

上述变动状态估计部具备判定上述基于物理量的信号与在上述测定时刻之前得到的校正信号的大小关系的大小关系判定部，

上述滤波器系数输出部具备基于多个上述大小关系来输出第一滤波器系数的第一滤波器系数输出部。

6.根据权利要求5所述的物理量测量装置，其特征在于，还具备：

差值计算部，其计算在某个测定时刻得到的基于物理量的信号与在上述测定时刻之前得到的校正信号的差值或者计算在上述测定时刻之前且互不相同的时间点得到的校正信号的差值；

第二滤波器系数输出部，其基于由该差值计算部计算出的上述差值来输出第二滤波器系数；以及

滤波器系数选择部，其选择上述第一滤波器系数和上述第二滤波器系数中的某一方作为上述滤波器系数。

7.根据权利要求5或6所述的物理量测量装置，其特征在于，

当在期望周期中，上述基于物理量的信号与上述校正信号的大小关系偏向于相对大和相对小中的任一方的情况下，上述第一滤波器系数输出部把能够增大上述基于物理量的信号对上述新的校正信号的贡献度的系数作为第一滤波器系数输出，

在上述基于物理量的信号与上述校正信号的大小关系不存在相对的偏向时，上述第一滤波器系数输出部把能够增大上述校正信号对上述新的校正信号的贡献度的系数作为第一滤波器系数输出。

8.根据权利要求6或7所述的物理量测量装置，其特征在于，

上述第二滤波器系数输出部根据在某个测定时刻得到的上述基于物理量的信号与紧挨着该测定时刻之前得到的校正信号的差值以及在某个测定时刻得到的上述基于物理量的信号与在比该测定时刻早两个时刻的时刻得到的校正信号的差值，来输出第二滤波器系数。