[发明专利]缺陷检测方法、有机EL元件的修复方法以及有机EL显示面板

摘要

本发明提供一种对具有第一电极（12）、第二电极（17）、夹在第一电极（12）和第二电极（17）之间的功能层（16）以及发光层（15）的有机EL元件进行的缺陷监测方法。所述缺陷检测方法包括暗点显在化工序，通过在第一电极（12）和第二电极（17）之间施加用于使暗点显在化的电压，所述暗点是发光层（15）成为不发光的点，从而在有机EL元件在第一电极（12）和第二电极（17）之间具有成为引起不发光的原因的缺陷部（3）的情况下，使功能层（16）的与缺陷部（3）对应的第一部分（16c）的电阻下降；和暗点检测工序，在暗点显在化工序之后，在第一电极和第二电极之间施加如果是没有缺陷部的正常的有机EL元件的情况下它是会发光的电压即发光所需电压，对暗点进行检测。

主权项

一种对有机EL元件进行的缺陷检测方法，所述有机EL元件具有第一电极、第二电极以及夹在所述第一电极和所述第二电极之间的功能层和发光层，所述缺陷检测方法包括：暗点显在化工序，通过在所述第一电极和所述第二电极之间施加用于使暗点显在化的电压，所述暗点是所述发光层为不发光的点，在所述有机EL元件在所述第一电极和所述第二电极之间具有成为导致所述不发光的原因的缺陷部的情况下，使所述功能层的与所述缺陷部对应的第一部分的电阻下降；和暗点检测工序，在所述暗点显在化工序之后，在所述第一电极和所述第二电极之间施加如果是没有所述缺陷部的正常的有机EL元件的情况下它是会发光的电压即发光所需电压，对所述暗点进行检测，所述功能层由掺杂了金属的有机材料构成，在所述暗点显在化工序中，通过对所述第一部分通电而使之发热，从而使所述第一部分所包含的所述有机材料蒸发而形成空隙部，在所述功能层的包围所述空隙部的侧壁部分，使在蒸发了的所述有机材料掺杂的所述金属析出，由此使电阻下降。