[实用新型]一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置有效
| 申请号： | 201320660825.7 | 申请日： | 2013-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN203629789U | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 王贞福;刘兴胜 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01L1/24 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 胡乐 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置，包括依次设置的多发光单元半导体激光器、快慢轴准直透镜组件、具有放大作用的显微物镜、位置可调的孔径光阑、以及偏振分束棱镜，透过孔径光阑的光经偏振分束棱镜，分为TE偏振光和TM偏振光，在形成的透射光路和反射光路上分别设置有光功率探测器。本实用新型能够测量多发光单元半导体激光器的空间偏振信息，进而实现定量评价半导体激光器封装所所产生的应力，从而改善封装工艺。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多发 单元 半导体激光器 空间 偏振 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置，包括依次设置的多发光单元半导体激光器、快慢轴准直透镜组件、具有放大作用的显微物镜、位置可调的孔径光阑、以及偏振分束棱镜，透过孔径光阑的光经偏振分束棱镜，分为TE偏振光和TM偏振光，在形成的透射光路和反射光路上分别设置有光功率探测器。
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