[实用新型]一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置有效

专利信息
申请号: 201320660825.7 申请日: 2013-10-24
公开(公告)号: CN203629789U 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 王贞福;刘兴胜 申请(专利权)人: 西安炬光科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01L1/24
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 胡乐
地址: 710119 陕西省西安市高*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 多发 单元 半导体激光器 空间 偏振 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,包括依次设置的多发光单元半导体激光器、快慢轴准直透镜组件、具有放大作用的显微物镜、位置可调的孔径光阑、以及偏振分束棱镜,透过孔径光阑的光经偏振分束棱镜,分为TE偏振光和TM偏振光,在形成的透射光路和反射光路上分别设置有光功率探测器。

2.根据权利要求1所述的多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,其特征在于:孔径光阑采用高热导率的金属材料制成,在孔径光阑的表面涂覆吸光材料;所述的高热导热率金属材料为铜、金、铜钨、或者铜金刚石复合材料。

3.根据权利要求1所述的多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,其特征在于:在孔径光阑处设置风扇进行风冷。

4.根据权利要求1所述的多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,其特征在于:在孔径光阑上设置微通道水路或者宏通道水路进行散热。

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