[实用新型]非接触式间隙、断差光学测量设备有效

专利信息
申请号: 201320567537.7 申请日: 2013-09-12
公开(公告)号: CN203657755U 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 吴顺柏;张行;赵思;艾晓国;仝敬烁;尹建刚;高云峰 申请(专利权)人: 深圳市大族激光科技股份有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/00;G01B11/14
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型适用于激光测量技术领域,提供了一种非接触式间隙、断差光学测量设备,旨在解决如何自动检测产品窗口上不同表面之间的间隙和断差的问题。该测量设备包括机柜、工控系统、三轴平台组件,还包括与三轴平台组件并排设置于机柜上的马达旋转组件、安装于马达旋转组件上以用于夹持待测产品的定位夹具组件、安装于三轴平台组件上以抓取待测产品轮廓的CCD影像组件和用于测量待测产品不同表面之间间隙和断差的激光测量组件。该测量设备采用CCD影像组件与激光测量组件配合使用自动测量待测产品窗口上不同表面之间的间隙值和断差值,提高了检测效率及精度。
搜索关键词: 接触 间隙 光学 测量 设备
【主权项】:
一种非接触式间隙、断差光学测量设备,用于测量待测产品不同表面之间的间隙和断差,包括机柜、安装于所述机柜上的三轴平台组件以及安装于所述机柜内并用于控制所述三轴平台组件运动的工控系统,其特征在于,还包括与所述三轴平台组件并排设置于所述机柜上的马达旋转组件、安装于所述马达旋转组件上以用于夹持所述待测产品的定位夹具组件、安装于所述三轴平台组件上以抓取所述待测产品轮廓并识别所述待测产品位置的CCD影像组件和用于测量所述待测产品不同表面之间间隙和断差的激光测量组件。 
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