[实用新型]一种PIN光电探测器芯片有效

专利信息
申请号: 201320447485.X 申请日: 2013-07-25
公开(公告)号: CN203325955U 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 杨彦伟;陆一锋;梁泽;高国祥 申请(专利权)人: 深圳新飞通光电子技术有限公司
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/0352;H01L31/0216
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供的一种光接收应用的PIN光电探测器芯片,包括外延片与其背面形成欧姆接触的n电极,所述的外延片自n型InP半导体衬底上连续生长:n型InP缓冲层;i型InGaAs吸收层;n型InP过渡层;n型至少三元以上的Ⅲ-Ⅴ族顶层,所述n型InP过渡层中心设有掺杂光敏区和掺杂保护环;位于所述n型InP过渡层上表面依序设有钝化膜层及增透过渡薄膜层;该增透过渡薄膜层的部分表面设有p型电极金属层;另一部分设有绝缘层;该绝缘层表面设有金属遮光层;增透薄膜层设于所述金属遮光层、绝缘层和掺杂光敏区上表面。非光源吸收区的区域采用了金属遮光层和掺杂保护环设计,阻止杂散光产生的光电流进入芯片光电流回路中,从而光信号串扰大大减小。
搜索关键词: 一种 pin 光电 探测器 芯片
【主权项】:
一种光接收应用的PIN光电探测器芯片,包括外延片与其背面形成欧姆接触的n电极(1),所述的外延片自n型InP半导体衬底(2)上连续生长:一n型InP缓冲层(3);一i型InGaAs吸收层(4);一n型InP过渡层(5);一n型至少三元以上的Ⅲ‑Ⅴ族顶层(6),其特征在于,所述n型InP过渡层(5)中心设有一掺杂光敏区(51)和一掺杂保护环(52);位于所述n型InP过渡层(5)上表面依序设有一钝化膜层(7)及一增透过渡薄膜层(8);该增透过渡薄膜层(8)的部分表面设有一p型电极金属层(9);另一部分设有一绝缘层(10);该绝缘层表面设有一金属遮光层(11);一增透薄膜层(12)设于所述金属遮光层(11)、绝缘层(10)和掺杂光敏区(51)上表面。
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