[实用新型]粗糙度或表面微结构轮廓测量仪有效

专利信息
申请号: 201320396791.5 申请日: 2013-07-04
公开(公告)号: CN203464909U 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 乌尔里克·布莱特迈尔 申请(专利权)人: 布莱特迈尔测量技术有限责任公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/30
代理公司: 北京市路盛律师事务所 11326 代理人: 汪勤
地址: 德国埃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 实用新型涉及一种用于测量待测对象的待测对象表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓的测量仪。该测量仪包括:固定在探测杆(4)上的表面探测体(10),用于检测待测对象表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓;进给装置,用于使表面探测体(10)沿着移动路径在探测路径长度上运动;用于检测表面探测体(10)相对于待测对象表面(9)的位置的测量系统(6);和驱动、数据采集和/或评价电子装置(12)和/或计算机接口。在探测杆(4)上和/或在用于保护探测杆(4)和/或表面探测体(10)以防被损坏的保护体(2)上安装有至少一个用于采集待测对象表面(9)的图像采集系统(3、11)。
搜索关键词: 粗糙 表面 微结构 轮廓 测量仪
【主权项】:
一种用于测量待测对象(9)的待测对象表面的粗糙度或表面微结构轮廓的粗糙度或表面微结构轮廓测量仪,包括: 固定在探测杆(4)上的表面探测体(10),用于接触式或非接触式检测待测对象表面的粗糙度或表面微结构轮廓; 机动化的或者配设有致动器的进给装置,用于使表面探测体(10)沿着移动路径在探测路径长度上运动; 用于检测表面探测体(10)相对于待测对象表面的位置的测量系统(6);和 驱动、数据采集和/或评价电子装置(12)和/或计算机接口; 其特征在于:在所述探测杆(4)上和/或在用于保护所述探测杆(4)和/或表面探测体(10)以防被损坏的保护体(2)上安装有至少一个用于采集待测对象表面的图像的图像采集系统(3、11)。 
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