[实用新型]高温环境下光电模块性能测试装置

摘要

本实用新型公布了高温环境下光电模块性能测试装置，包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板的输出端传输至计算机。本实用新型直接对整个光电模块进行加温实验，采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据，对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算，从而评估光电模块在正常情况下的寿命；避免了以LED的寿命来作为光电模块寿命的不准确性，且不需要剥离出LED即可进行测试，方便实验的成规模应用。

主权项

高温环境下光电模块性能测试装置，其特征在于：包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板与计算机相连接；所述内部测试板包括n个SFP插座，n为大于1的自然数，这n个SFP插座的SDA、SCL、VCC三个管脚与金属端子连接，连接SDA和SCL的金属端子通过耐高温导线同时分别与I2C总线多路复用器、模拟多路复用器连接，I2C总线多路复用器、模拟多路复用器均与数字信号处理器DSP连接，数字信号处理器的输出  端连接至电平转换芯片，电平转换芯片的输出端连接至上位机；所述外部测试板包括PCB电路安装板，还包括设置在PCB电路安装板上的I2C总线多路复用器、模拟多路复用器、DSP，I2C总线多路复用器和模拟多路复用器的输入端与内部测试板连接，输出端与DSP连接， DSP的输出端与电平转换芯片连接。