[实用新型]高温环境下光电模块性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉加速寿命试验领域的实验装置，具体是指高温环境下光电模块性能测试装置。

背景技术

加速寿命试验的统一定义最早由美罗姆航展中心于1967年提出，加速寿命试验是在进行合理工程及统计假设的基础上，利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的信息进行转换，得到产品在额定应力水平下的特征可复现的数值估计的一种试验方法。简言之，加速寿命试验是在保持失效机理不变的条件下，通过加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速寿命试验采用加速应力水平来进行产品的寿命试验，从而缩短了试验时间,提高了试验效率,降低了试验成本。进行加速寿命试验必须确定一系列的参数，包括(但不限于)： 试验持续时间、样本数量、试验目的、要求的置信度、需求的精度、费用、加速因子、外场环境、试验环境、加速因子计算、威布尔分布斜率或β参数(β < 1表示早期故障，β > 1 表示耗损故障) 。用加速寿命试验方法确定产品寿命，关键是确定加速因子，而有时这是最困难的，一般用以下两种方法：1、现有模型，现有模型有：Arrhenius模型、Coffin2Manson模型和Norris2Lanzberg模型等，使用现有模型比用试验方法来确定加速因子节省时间，并且所需样本少，但不是很精确，且模型变量的赋值较复杂；2、通过试验确定的模型(需要大量试验样本和时间) ，若没有合适的加速模型，就需要通过试验导出加速因子，先将样本分成3个应力级别：高应力、中应力、低应力，定试验计划确保在每一个应力级别上产生相同的失效机理，这是确定加速因子较精确的方法,但需要较长的时间和较多样本。

由于光电模块是一个整体集合，其中包含许多电子元器件，其中以LED最为重要，是光电模块工作的核心器件，LED的可靠性直接关系到整个光电模块的可靠性。现有技术大多是以单独剥离出LED，在高温下进行测试并推导出其在正常情况下的寿命，以LED的寿命作为整个光模块的寿命。这样的方法虽然简单，但是忽视了光电模块作为一个整体，有可能会因为除了LED以外的内部其他器件的问题而达到寿命上限。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供高温环境下光电模块性能测试装置，解决目前的以LED的可靠性来代替整个光电模块的可靠性存在的失真问题，达到测试整个光电模块的目的。

本实用新型的目的通过下述技术方案实现：

高温环境下光电模块性能测试装置，包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板的通过电平转换芯片输出信号传输至计算机。

所述内部测试板包括n个SFP插座，n为大于1的自然数，这n个SFP插座的SDA、SCL、VCC三个管脚与金属端子连接，连接SDA和SCL的金属端子通过耐高温导线同时分别与I²C总线多路复用器、模拟多路复用器连接，I²C总线多路复用器、模拟多路复用器均与数字信号处理器DSP连接，数字信号处理器的输出端连接至电平转换芯片，电平转换芯片的输出端连接至上位机。本实用新型在使用时内部测试板放置在高温测试箱内，高温状态下光电模块的I²C诊断信号通过SFP插座传输给I²C总线多路复用器和模拟多路复用器，I²C总线多路复用器是一种综合系统，通常包含一定数目的数据输入，n个地址输入，以二进制形式选择一种数据输入，I²C总线多路复用器有一个单独的输出，与选择的数据输入值相同，用于中等密度的自动化测试系统，在自动测试系统中配合台式数字万用表、信号发生器等各种测试仪器，实现在计算机控制系统中的自动化测试，扩展仪器测试通道；模拟多路复用器的用途与总线多路复用器的作用类似，采集不同矢量的方向的输入信号并传递给数字信号处理器，数字信号处理器将采集到的模拟信号进行采样变成数字信号，并经过电平转换芯片转换后通过串口发送给上位机。

所述的SFP插座的SDA、SCL、VCC三个管脚与金属端子连接。具体地讲，SFP插座作为测试件的连接端口，在SFP插座上连接金属端子，具体的管脚为SDA、SCL、VCC，就可以测试光电模块的多个参数了。