[实用新型]测试治具有效
| 申请号： | 201320165541.0 | 申请日： | 2013-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN203191515U | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 傅显辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市森力普电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测试治具，包括上治具和下治具，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定多个探针的针盘和将多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，针盘位于被测电路板与转接板之间，本实用新型使用这种测试治具对被测电路板进行测试，能够减少测试治具制作的工作量，避免出现绕/焊线错误及接触不良，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及制作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 | ||
【主权项】：
一种测试治具，包括下治具，其特征在于，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定所述多个探针的针盘和将所述多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，所述针盘位于所述被测电路板与转接板之间。
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