[发明专利]位置检测器

摘要

本发明公开了一种位置检测器，其具有以可运动的方式设置在模具（9）上在第一磁通传输部件（20）和第二磁通传输部件（30）之间的间隙（101）中以根据穿过其中的磁通密度输出信号的霍尔IC（60）。霍尔IC相对于旋转体（12）的运动被霍尔IC（60）检测到。霍尔IC具有第一磁通收集器（70）和第二磁通收集器（80）。第一磁通收集器和第一磁通传输部件之间的第一磁路（M1）的磁阻以及第二磁通收集器和第二磁通传输部件之间的第二磁路（M2）的磁阻构造为使得霍尔IC相对于旋转体在其中磁通密度减小至最小的预定径向距离处可运动。

主权项

1.一种检测相对于参照部件(6、9)运动的检测对象(12)的位置的位置检测器(10)，所述位置检测器(10)包括：第一磁通传输部件(20)，设置在检测对象或参照部件中的一个上，第一磁通传输部件具有第一端(22)、第二端(23)，并且具有沿着与检测对象的旋转轴线同心的第一虚拟圆(C1)延伸的形状；第二磁通传输部件(30)，设置为在第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间限定间隙(101)，第二磁通传输部件具有第一端(32)、第二端(33)，以及具有沿着与第一虚拟圆同心并且半径大于第一虚拟圆的第二虚拟圆(C2)延伸的形状；第一磁通产生器(40)，设置在第一磁通传输部件的第一端和第二磁通传输部件的第一端之间的位置；第二磁通产生器(50)，设置在第一磁通传输部件的第二端和第二磁通传输部件的第二端之间的位置；磁通密度检测器(60)，设置在检测对象或参照部件中的另一个上以在间隙中相对于所述检测对象或参照部件中的所述一个可运动，并且根据穿过磁通密度检测器的磁通的密度输出信号；第一磁通收集器(70)，设置在磁通密度检测器的一侧上并面对第一磁通传输部件；以及第二磁通收集器(80)，设置在磁通密度检测器的另一侧上并面对第二磁通传输部件，其设置方式是，将磁通密度检测器束缚在第一磁通收集器和第二磁通收集器之间，其中，限定在第一磁通收集器和第一磁通传输部件之间的第一磁路(M1)的磁阻以及限定在第二磁通收集器和第二磁通传输部件之间的第二磁路(M2)的磁阻分别被构造为使得磁通密度检测器在间隙中相对于检测对象或参照部件之一沿着具有其中检测到的磁通密度减小至最小的且半径在第一虚拟圆(C1)的半径和第二虚拟圆(C2)的半径之间的圆形路径可运动；第一磁通收集器形成为使得面对第一磁通传输部件的面(72)和包括第一虚拟圆的虚拟平面之间的交叉部分具有直线形状，第二磁通收集器形成为使得面对第二磁通传输部件的面(82)和所述虚拟平面之间的交叉部分具有直线形状，以及磁通密度检测器设置在从第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间的中点朝着第二磁通传输部件沿着第一虚拟圆的径向偏移预定偏移距离的位置。