[发明专利]位置检测器

说明书

本发明公开了一种位置检测器，其具有以可运动的方式设置在模具（9）上在第一磁通传输部件（20）和第二磁通传输部件（30）之间的间隙（101）中以根据穿过其中的磁通密度输出信号的霍尔IC（60）。霍尔IC相对于旋转体（12）的运动被霍尔IC（60）检测到。霍尔IC具有第一磁通收集器（70）和第二磁通收集器（80）。第一磁通收集器和第一磁通传输部件之间的第一磁路（M1）的磁阻以及第二磁通收集器和第二磁通传输部件之间的第二磁路（M2）的磁阻构造为使得霍尔IC相对于旋转体在其中磁通密度减小至最小的预定径向距离处可运动。

技术领域

本发明整体涉及一种用于检测检测对象的位置的位置检测器。

背景技术

一般来说，磁力式位置检测器检测检测对象的位置相对于参照部件的变化。磁力式位置检测器可利用诸如磁体的磁通产生器。例如，在专利文献1(即，日本专利特开No.JP-A-H 08-292004)中公开的位置检测器被构造为形成具有设置在参照部件上的两个磁通传输部件和两个磁体的闭合磁路。在这种结构中，两个磁体分别由两个互相面对的磁通传输部件的端部束缚。在两个磁通传输部件的各自端部之间的间隙内发生从一个传输部件至另一个传输部件的溢磁通(spill magnetic flux)流。磁通密度检测器被构造为在两个磁通传输部件之间的间隙内与检测对象一起运动，并根据从中穿过的磁通输出检测信号。按照这种方式，位置检测器基于从磁通检测器输出的输出信号检测检测对象相对于参照部件的位置。

在专利文献1中，将位置检测器描述为能够检测相对于参照部件旋转的检测对象的旋转位置(参见所述专利文献中的图8)。位置检测器具有形成为沿着以检测对象的旋转轴线为中心的虚拟圆延伸的两个磁通传输部件。此外，位置检测器布置有两个轭，轭设置为沿着虚拟圆的径向束缚磁通密度检测器或将其夹在中间，以将磁通流集中到所述两个磁通传输部件之间的磁通密度检测器。

在这种情况下，两个轭的每个具有面对对应的磁通传输部件的面。每个对应的磁通传输部件具有平面形状。此外，所述两个磁通传输部件之一的面对轭的面具有凸状，而所述两个磁通传输部件的另一个的面对轭的面具有凹状。因此，当磁通密度检测器布置在两个磁通传输部件之间的中点时，两个磁路中的导磁性不同，也就是说，(i)从一个传输部件至轭的磁路和(ii)从另一传输部件至轭的磁路之间的导磁性不同。

在这种构造中，在两个磁通传输部件之间的间隙中沿着虚拟圆的径向磁通密度降低至最小的最小磁通位置沿着径向从磁通密度检测器的位置移开。结果，根据密度检测器沿着虚拟圆径向的移动，磁通密度在密度检测器的附近的变化增大。因此，由于密度检测器沿着虚拟圆的径向的移动，来自密度检测器的输出信号的变化会增大。因此，知道针对密度检测器的位移，位置检测器的稳健性会变差。也就是说，换句话说，在专利文献1的位置检测器中，用于检测检测对象的位置的位置检测精度会变差。

发明内容

本发明的一方面是提供一种具有提高的位置检测精度的具有磁通密度检测部分的位置检测器。