[发明专利]介质材料不同温度下辐射诱导电导率测量装置及方法

摘要

本发明提供一种介质材料不同温度下辐射诱导电导率测量装置及方法。一种介质材料不同温度下辐射诱导电导率测量装置，包括：真空室、用于模拟空间环境高能电子的电子加速器、介质材料、屏蔽壳、绝缘导热垫、用于给介质材料加热的加热片、隔热垫、用于测量介质材料漏电流的静电计、用于给加热片供电的加热片电源、真空抽气系统、样品台、三维运动导轨、用于监测介质材料温度的温度巡检仪、用于监测介质材料表面电位的非接触式电位计。本发明可以提高介质材料不同温度下辐射诱导电导率测量的准确度。

主权项

一种介质材料不同温度下辐射诱导电导率测量装置，其特征在于，包括：真空室、用于模拟空间环境高能电子的电子加速器、介质材料、屏蔽壳、绝缘导热垫、用于给所述介质材料加热的加热片、隔热垫、用于测量所述介质材料漏电流的静电计、用于给所述加热片供电的加热片电源、真空抽气系统、样品台、三维运动导轨、用于监测所述介质材料温度的温度巡检仪、用于监测所述介质材料表面电位的非接触式电位计；其中，所述电子加速器位于所述真空室的顶部；所述样品台位于所述真空室的底部；所述隔热垫放置于所述样品台的上表面；所述加热片放置于所述隔热垫的上表面，所述绝缘导热垫放置于所述加热片的上表面，所述介质材料放置于所述绝缘导热垫的上表面；所述屏蔽壳位于所述介质材料外侧，包围所述介质材料、绝缘导热垫、加热片和隔热垫；所述三维运动导轨安装于所述真空室的底部，且位于所述样品台的左侧，所述三维运动导轨的测头位于所述介质材料的上方；所述静电计、加热片电源、真空抽气系统、温度巡检仪和非接触式电位计位于所述真空室的外部；所述温度巡检仪与所述介质材料相连；所述静电计的一端与所述介质材料相连，所述静电计的另一端接地；所述加热片电源与所述加热片相连；所述非接触式电位计的一端与所述三维运动导轨的测头相连，所述非接触式电位计的另一端接地；所述真空抽气系统紧贴所述真空室的外壁。