[发明专利]用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统

摘要

于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，它涉及一种加热系统，属于半透明材料加热技术领域。本发明为了解决现有半透明材料发射率测量装置中的材料试样加热系统体积庞大、结构复杂、试样背景辐射特性复杂、成本高的技术问题。本发明包括加热器和PID温度控制器，加热器包括加热器壳体、方形弹簧固定片、加热片电源引线、圆形平板电阻加热片、温度传感器探头、加热器保温层和温度传感器引线。本发明在加热片的半透明材料试样侧涂有黑体涂层，使得试样加热过程中背景辐射特性简单，有利于半透明材料发射率测量中背景辐射的扣除；本发明采用电阻加热片直接加热的方式，具有体积小、结构简单、加热快、成本低、耗能低的优点。

主权项

用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，它包括加热器（11）和PID温度控制器（3），其特征在于：所述加热器（11）包括加热器壳体（2）、第一弹簧片（4‑1）、第二弹簧片（4‑2）、加热片电源引线（5）、圆形平板电阻加热片（6）、温度传感器探头（7）、加热器保温层（9）和温度传感器引线（10）；所述圆形平板电阻加热片（6）面向半透明材料试样（1）的一侧抛光并均匀涂敷黑体涂层，圆形平板电阻加热片（6）为圆形扁平铸铜外壳，内部均匀缠绕电阻丝，圆形平板电阻加热片（6）中心位置开设直径为3.5mm的通孔，圆形平板电阻加热片（6）上部开设直径1mm通孔，温度传感器探头（7）固定于直径1mm通孔内，温度传感器探头（7）端部与圆形平板电阻加热片（6）侧平面持平，所述第一弹簧片（4‑1）的一端固定于法兰（12）的上部，第二弹簧片（4‑2）的一端固定于法兰（12）的下部，加热器壳体（2）为圆柱形不锈钢壳体，圆柱形不锈钢壳体左端设有法兰（12），法兰（12）与圆柱形不锈钢壳体间设有半圆形缺口，所述加热器保温层（9）中心位置设有与圆形平板电阻加热片（6）同轴的直径为3.5mm的激光通道（8），所述加热片电源引线（5）和温度传感器引线（10）由加热器保温层（9）中的通孔引出。