[发明专利]用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统有效
| 申请号： | 201310716967.5 | 申请日： | 2013-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN103630567A | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 牛春洋;齐宏;孙星;陈琴;阮立明;姜宝成 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00;G01N1/44;G05D23/30 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 侯静 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 半透明 材料 试样 发射 背景 噪声 加热 系统 | ||
1.用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，它包括加热器（11）和PID温度控制器（3），其特征在于：
所述加热器（11）包括加热器壳体（2）、第一弹簧片（4-1）、第二弹簧片（4-2）、加热片电源引线（5）、圆形平板电阻加热片（6）、温度传感器探头（7）、加热器保温层（9）和温度传感器引线（10）；
所述圆形平板电阻加热片（6）面向半透明材料试样（1）的一侧抛光并均匀涂敷黑体涂层，圆形平板电阻加热片（6）为圆形扁平铸铜外壳，内部均匀缠绕电阻丝，圆形平板电阻加热片（6）中心位置开设直径为3.5mm的通孔，圆形平板电阻加热片（6）上部开设直径1mm通孔，温度传感器探头（7）固定于直径1mm通孔内，温度传感器探头（7）端部与圆形平板电阻加热片（6）侧平面持平，所述第一弹簧片（4-1）的一端固定于法兰（12）的上部，第二弹簧片（4-2）的一端固定于法兰（12）的下部，加热器壳体（2）为圆柱形不锈钢壳体，圆柱形不锈钢壳体左端设有法兰（12），法兰（12）与圆柱形不锈钢壳体间设有半圆形缺口，所述加热器保温层（9）中心位置设有与圆形平板电阻加热片（6）同轴的直径为3.5mm的激光通道（8），所述加热片电源引线（5）和温度传感器引线（10）由加热器保温层（9）中的通孔引出。
2.根据权利要求1所述用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，其特征在于：所述温度传感器探头（7）为S型铂铑热电偶。
3.根据权利要求1所述用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，其特征在于：所述第一弹簧片（4-1）、第二弹簧片（4-2）为不锈钢薄片，具有弹性。
4.根据权利要求1所述用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，其特征在于：所述加热器保温层（9）的材料为陶瓷纤维保温材料。
5.根据权利要求1所述用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，其特征在于：所述用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，加热半透明材料试样1的直径为50mm，加热温度范围为室温～800℃。
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