[发明专利]用于测试IGBT模块的局部放电的装置和方法有效
申请号: | 201310646011.2 | 申请日: | 2013-12-04 |
公开(公告)号: | CN103675622B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 万超群;陈彦;李世平;曾文彬;潘学军;宋自珍;奉琴 | 申请(专利权)人: | 株洲南车时代电气股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 | 代理人: | 吴大建,刘华联 |
地址: | 412001 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于测试IGBT模块的局部放电的装置,包括提供了一种用于测试IGBT模块的局部放电的装置,包括用于安放需要测试的IGBT模块的绝缘定位支座、设置在绝缘定位支座上的探针机构,以及加载单元,加载单元能驱动探针机构沿轴向运动,从而与需要测试的IGBT模块端口相接触。此外,还包括容纳探针机构的绝缘壳体。此装置结构简单,容易操作,提高了测试效率和安全性。同时,减小了测试中对IGBT的损伤。本发明还提供了一种用上述的测试装置来测试局部放电的方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 igbt 模块 局部 放电 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于测试IGBT模块的局部放电的装置,包括:用于安放需要测试的IGBT模块的绝缘定位支座;设置在所述绝缘定位支座上的探针机构;以及加载单元,其中,所述加载单元能驱动所述探针机构沿轴向运动,从而与所述需要测试的IGBT模块端口相接触,所述探针机构包括导电板,所述导电板设置有从第一端部中延伸出的用于连接测试电路的电气连接部,还包括设置为U型的绝缘壳体,所述探针机构容纳于所述U型的绝缘壳体的内腔中,所述探针机构还包括垂直固定设置在所述导电板上的用于与所述需要测试的IGBT模块端口匹配的探针,以及覆盖式固定在导电板上的绝缘板,所述绝缘板与所述探针的接触点分别位于所述导电板的两侧,所述加载单元包括固定连接在所述绝缘壳体上的紧固架,以及设置在所述紧固架上的用于调整所述探针机构的位置的驱动件。
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