[发明专利]用于测试IGBT模块的局部放电的装置和方法

权利要求书

1.一种用于测试IGBT模块的局部放电的装置，包括：

用于安放需要测试的IGBT模块的绝缘定位支座；

设置在所述绝缘定位支座上的探针机构；

以及加载单元，

其中，所述加载单元能驱动所述探针机构沿轴向运动，从而与所述需要测试的IGBT模块端口相接触。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括设置为U型的绝缘壳体，所述探针机构容纳于所述U型的绝缘壳体的内腔中。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述探针机构包括导电板、垂直固定设置在所述导电板上的用于与所述需要测试的IGBT模块端口匹配的探针，以及覆盖式固定在导电板上的绝缘板，所述绝缘板与所述探针的接触点分别位于所述导电板的两侧。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述导电板设置有从第一端部中延伸出的用于连接测试电路的电气连接部。

5.根据权利要求1到3中任一项所述的装置，其特征在于，所述加载单元包括固定连接在所述绝缘壳体上的紧固架，以及设置在所述紧固架上的用于调整所述探针机构的位置的驱动件。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，在所述驱动件与所述探针机构的绝缘板之间设置用于均衡压力的压力分布板。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述绝缘定位支座的长度不大于所述需要测试的IGBT模块基板的长度。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述绝缘定位支座的底板上设置与所述需要测试的IGBT模块的基板相匹配的绝缘定位槽。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述探针机构通过弹簧支柱连接到所述绝缘定位支座上。

10.一种使用根据权利要求1到9中任一项所述的装置来测试IGBT模块局部放电的方法，包括以下步骤：

步骤一：将所述需要测试的IGBT模块沿其长度方向通过所述绝缘定位槽放入所述装置内；

步骤二：操作所述驱动件，使与所述驱动件接触的所述压力分布板推动所述探针机构，使所述探针接触到所述需要测试的IGBT模块的各端口，并压缩一定行程；

步骤三：在所述装置的电气连接部连接测试电路；

步骤四：测试完成，撤去测试电路；

步骤五：操作所述驱动件，通过所述弹簧支座作用，使得所述装置的探针机构上升至初始位置。