[发明专利]一种对探测器的检测方法和装置有效
| 申请号： | 201310637962.3 | 申请日： | 2013-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN103885080A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 徐亮;吴国城;支力佳 | 申请（专利权）人： | 沈阳东软医疗系统有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202;G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 110179 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种对探测器的检测方法和装置，所述方法包括：将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。本发明采用客观有效的定量的数据分析来对探测器进行检测，得出的检测结果准确率高，为工作人员对探测器的设计提供参考。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探测器 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种对探测器的检测方法，其特征在于，所述方法包括：将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。
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