[发明专利]一种对探测器的检测方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及医疗设备技术领域，具体涉及一种对探测器的检测方法和装置。

背景技术

双模态医学诊断设备为当今的医学诊断提供了有效的工具，PET/CT和SPECT/CT均是双模态医学诊断设备的典型代表。探测器作为PET或SPECT装置最为核心的部件，主要用于检测引入病人体内的放射性核素所发出的射线（如：γ射线）。探测器主要包括闪烁晶体和光电转换器，其中，闪烁晶体可以为单独的块状晶体，或为能识别的多个闪烁晶体单元组成的晶体阵列，其主要用于探测从病人体内释放的γ光子，并转换成可见光光子。而光电转换器可以是光电倍增管或光电二极管，其主要用于将可见光光子转换成电信号。

当探测器中的闪烁晶体为晶体阵列时，参考图1，图1为晶体阵列的二维晶体位置散点图。理想情况下，该晶体位置散点图中的各个像素点的分布应该是均匀的。然而，在实际情况中，由于受探测器制作工艺的不完全一致性等因素的影响，上述像素点的分布经常不均匀，这一定程度上反映了该探测器的性能。

目前，现有的探测器性能检测多是基于对晶体位置散点图的主观判断，即当晶体位置散点图中的各个像素点的分布均匀时，就确定其性能优良，并没有一个客观有效的定量的数据分析来对探测器进行性能检测。因此，现有技术的方法可能会针对探测器性能得出错误的结论，这在一定程度上制约和干扰了后续工作人员对探测器的设计，可能会降低探测器的分辨率，最终影响探测器的成像质量。

发明内容

本发明提供了一种对探测器的检测方法和装置，能够通过定量的数据分析实现对探测器的检测。

本发明提供了一种对探测器的检测方法，所述方法包括：

将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；

获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；

在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；

基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；

以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；

根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。

优选地，所述获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图之后，且在所述确定所述晶体位置散点图的等高线之前，还包括：

对所述晶体位置散点图进行平滑处理。

优选地，所述对所述晶体位置散点图进行平滑处理，包括：

利用公式（1），对所述晶体位置散点图进行平滑处理，

D(x,y,σ)=(G(x,y,kσ)-G(x,y,σ))*I(x,y)  （1）

其中，I(x,y)为原始的晶体位置散点图，k为常数，G(x,y,σ)为方差为σ的高斯分布函数，G(x,y,kσ)为方差为kσ的高斯分布函数，D(x,y,σ)为平滑处理后的晶体位置散点图；

获取经过平滑处理后的晶体位置散点图。

优选地，所述在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线，包括：

获取所述晶体位置散点图的最大值和最小值；

将所述最大值和最小值之间的数值段进行等差划分，得到等高阈值；

确定与所述等高阈值对应的等高线。

优选地，所述基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块，包括：

对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面；

获取相邻的所述拟合曲面的交线；

以所述交线为分割线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块。

优选地，所述对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面，包括：

利用二维高斯曲面公式，对所述等高线进行拟合；

对所述等高线进行拟合后，获取拟合曲面。

优选地，所述对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面，包括：

判断所述等高线是否对称，如果是，则对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面，如果否，则获取所述等高线的不对称的两部分，分别对所述不对称的两部分进行拟合，得到拟合曲面。

优选地，所述根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果，包括：

分别在所述第一投影图和所述第二投影图中，获取峰值；

获取与每个峰值相邻的两个谷值；

根据所述谷值和所述峰值，确定峰谷比值，所述峰谷比值为所述峰值和所述谷值的比值；

依据所述峰谷比值确定检测结果。

优选地，所述依据所述峰谷比值确定检测结果，包括：