[发明专利]可检测污染层的环境传感器有效
| 申请号： | 201310636598.9 | 申请日： | 2013-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN103852110A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 艾利·阿莫尔·边赫迪;曼维·阿加瓦尔 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吕雁葭 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明公开了一种环境传感器和操作环境传感器的方法。环境传感器包括：包含光传感器的半导体衬底；表层，环境光可以通过该表层传递到达光传感器，和光源，该光源被设置为照亮表层，该表层反射该光源的至少一部分光到光传感器上，其中，所述环境传感器设置为通过比较坏境光和至少一个光传感器的反射光的测量值来确定该表层上污染层的存在。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 污染 环境 传感器 | ||
【主权项】：
一种环境传感器，其特征在于，包括：包含光传感器的半导体衬底；表层，环境光可以通过该表层传递到达光传感器；和光源，该光源被设置为照亮表层，从而该表层反射该光源的至少一部分光到光传感器上；其中，所述环境传感器被设置为通过比较坏境光和至少一个光传感器的反射光的测量值来确定该表层上污染层的存在。
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