[发明专利]一种测井地层成像系统及其方法有效

专利信息
申请号: 201310589744.7 申请日: 2013-11-20
公开(公告)号: CN103615239A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 李剑浩;汤天知;余春昊;周军;杜钦波;李国军 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团测井有限公司
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘杰
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测井地层成像系统及其方法,属于测井技术领域。该系统包括泥岩地层因素模块、砂岩地层因素模块、平均地层因素模块、砂泥岩剖面模块、过渡带的地层水电阻率模块、地层水电阻率剖面模块、流体因素剖面模块、油气含量剖面模块、原状地层油气含量模块和地层水含量模块。本发明利用阵列感应成像测井和微电阻率成像测井两种方法进行联合计算,得到沿井眼方向的地层剖面成像图,该成像图能精准地反映了地层的含油气情况,与常规方法相比精度更高,可视化效果更加直观。
搜索关键词: 一种 测井 地层 成像 系统 及其 方法
【主权项】:
一种测井地层成像系统,其特征在于,包括泥岩地层因素模块、砂岩地层因素模块、平均地层因素模块、砂泥岩剖面模块、过渡带的地层水电阻率模块、地层水电阻率剖面模块、流体因素剖面模块、油气含量剖面模块、原状地层油气含量模块和地层水含量模块;其中,所述泥岩地层因素模块,选取井筒中的纯泥岩段,对所述纯泥岩段的纯泥岩测量,得到泥岩地层因素值;所述砂岩地层因素模块,选取井筒中纯砂岩段,对所述纯砂岩段的纯砂岩测量,得到砂岩地层因素值;所述平均地层因素模块,选取砂泥岩段,用阵列感应反演电阻率分别对所述泥岩地层因素值和所述砂岩地层因素值进行线性刻度,得到平均地层因素;所述砂泥岩剖面模块用于根据所述泥岩地层因素值、所述砂岩地层因素值和所述平均地层因素,计算得到泥质含量和含砂量;所述过渡带地层水电阻率模块用于根据冲洗带地层水电阻率和原状地层地层水电阻率过渡插值,计算得到过渡带地层水电阻率;所述地层水电阻率剖面模块用于分别通过阵列感应反演方法得到冲洗带半径和过渡带半径,根据所述冲洗带地层水电阻率、所述过渡带地层水电阻率、所述原状地层地层水电阻率、所述冲洗带半径和所述过渡带半径,计算得到地层水电阻率剖面;所述流体因素剖面模块用于根据所述阵列感应反演电阻率和所述地层水电阻率剖面,计算得到流体因素剖面;所述油气含量剖面模块用于根据所述平均地层因素和所述流体因素剖面,计算得到油气含量剖面;所述原状地层油气含量模块用于将所述流体因素剖面中径向剖面探测到最远的值作为原状地层流体因素,根据所述平均地层因素、所述油气含量剖面和所述原状地层流体因素,计算得到原状地层油气含量;所述地层水含量模块用于根据所述原状地层油气含量,计算得到地层水含量。
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