[发明专利]一种测井地层成像系统及其方法

权利要求书

1.一种测井地层成像系统，其特征在于，包括泥岩地层因素模块、砂岩地层因素模块、平均地层因素模块、砂泥岩剖面模块、过渡带的地层水电阻率模块、地层水电阻率剖面模块、流体因素剖面模块、油气含量剖面模块、原状地层油气含量模块和地层水含量模块；

其中，所述泥岩地层因素模块，选取井筒中的纯泥岩段，对所述纯泥岩段的纯泥岩测量，得到泥岩地层因素值；

所述砂岩地层因素模块，选取井筒中纯砂岩段，对所述纯砂岩段的纯砂岩测量，得到砂岩地层因素值；

所述平均地层因素模块，选取砂泥岩段，用阵列感应反演电阻率分别对所述泥岩地层因素值和所述砂岩地层因素值进行线性刻度，得到平均地层因素；

所述砂泥岩剖面模块用于根据所述泥岩地层因素值、所述砂岩地层因素值和所述平均地层因素，计算得到泥质含量和含砂量；

所述过渡带地层水电阻率模块用于根据冲洗带地层水电阻率和原状地层地层水电阻率过渡插值，计算得到过渡带地层水电阻率；

所述地层水电阻率剖面模块用于分别通过阵列感应反演方法得到冲洗带半径和过渡带半径，根据所述冲洗带地层水电阻率、所述过渡带地层水电阻率、所述原状地层地层水电阻率、所述冲洗带半径和所述过渡带半径，计算得到地层水电阻率剖面；

所述流体因素剖面模块用于根据所述阵列感应反演电阻率和所述地层水电阻率剖面，计算得到流体因素剖面；

所述油气含量剖面模块用于根据所述平均地层因素和所述流体因素剖面，计算得到油气含量剖面；

所述原状地层油气含量模块用于将所述流体因素剖面中径向剖面探测到最远的值作为原状地层流体因素，根据所述平均地层因素、所述油气含量剖面和所述原状地层流体因素，计算得到原状地层油气含量；

所述地层水含量模块用于根据所述原状地层油气含量，计算得到地层水含量。

2.一种测井地层成像方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤101：选取井筒中的纯泥岩段，对所述纯泥岩段的纯泥岩测量，得到泥岩地层因素值；

步骤102：选取井筒中纯砂岩段，对所述纯砂岩段的纯砂岩测量，得到砂岩地层因素值；

步骤103:选取砂泥岩段，用阵列感应反演电阻率分别对所述泥岩地层因素值和所述砂岩地层因素值进行线性刻度，得到平均地层因素；

步骤104：根据所述泥岩地层因素值、所述砂岩地层因素值和所述平均地层因素，计算得到泥质含量和含砂量；

步骤105：将冲洗带地层水电阻率和原状地层的地层水电阻率过渡插值，计算得到过渡带的地层水电阻率；

步骤106：通过阵列感应反演方法得到冲洗带半径和过渡带半径，根据所述冲洗带地层水电阻率、所述过渡带地层水电阻率、所述原状地层地层水电阻率、所述冲洗带半径和所述过渡带半径，计算得到地层水电阻率剖面；

步骤107：根据所述阵列感应反演电阻率和所述地层水电阻率剖面，计算得到流体因素剖面；

步骤108：根据所述平均地层因素和所述流体因素剖面，计算得到油气含量剖面；

步骤109：将所述流体因素剖面中径向剖面探测到最远的值作为原状地层流体因素，根据所述平均地层因素、所述油气含量剖面和所述原状地层流体因素，计算得到原状地层油气含量；

步骤1010：根据所述原状地层油气含量，计算得到地层水含量。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述步骤101中，所述得到泥岩地层因素值的方法如式（1）所示：

F_泥=Rxo/Rmf    （1）

式中，F_泥为泥岩地层因素值，单位为无量纲数，Rxo为冲洗带地层水电阻率，单位为Ω·m，Rmf为井筒中泥浆电阻率，单位为Ω·m。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述步骤102中，所述得到砂岩地层因素值的方法如式（2）所示：

F_砂=Rxo/Rmd    （2）

式中，F_砂为砂岩地层因素值，单位为无量纲数，Rxo为冲洗带地层水电阻率，单位为Ω·m，Rmd为井筒中砂岩电阻率，单位为Ω·m。