[发明专利]一种毫米波平面近场测试相位修正方法

摘要

本发明提供一种毫米波平面近场测试相位修正方法，步骤1：对设定的XY面进行平面扫描，并选定信号较强区域内的四个点为相位取样点；步骤2：设置预定周期对上述4个点进行平面扫描，确定每个周期内4个点的采集时刻、采集数据、采集位置；步骤3：通过对选定这4个点的数据变化量对扫描面中的每个点进行相位修正；步骤4：对整个扫描面修正后的数据进行傅立叶变换，由近场数据计算出远场数据，近远场变换公式如下。采用上述方案，通过记录扫描面上指定的采样点位置及在该位置下的采样数据来建立采样点对应的相位漂移和时间的函数关系，通过插值的方式实现对整个扫描面数据的相位补偿，提高近场测试系统在毫米波频段下的测试精度。

主权项

1.一种毫米波平面近场测试相位修正方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1：对设定的XY面进行平面扫描，并选定信号较强区域内的四个点为相位取样点； 步骤2：设置预定周期对上述4个点进行平面扫描，确定每个周期内4个点的采集时刻、采集数据、采集位置； 步骤3：通过对选定这4个点的数据变化量对扫描面中的每个点进行相位修正；其中，修正公式为： D[i,j]=A[i,j]*B[i,j]i=1,2…n,j=1,2…n;其中,D为修正后数据;A为采集数据;B为修正数据;i为X轴采集点数;j为Y轴采集点数;n为采集点数； 步骤4：对整个扫描面修正后的数据进行傅立叶变换，由近场数据计算出远场数据，近远场变换公式如下： 。