[发明专利]一种毫米波平面近场测试相位修正方法

权利要求书

1.一种毫米波平面近场测试相位修正方法，其特征在于，包括以下步骤： 

步骤1：对设定的XY面进行平面扫描，并选定信号较强区域内的四个点为相位取样点； 

步骤2：设置预定周期对上述4个点进行平面扫描，确定每个周期内4个点的采集时刻、采集数据、采集位置； 

步骤3：通过对选定这4个点的数据变化量对扫描面中的每个点进行相位修正；其中，修正公式为： 

D[i,j]=A[i,j]*B[i,j]i=1,2…n,j=1,2…n;其中,D为修正后数据;A为采集数据;B为修正数据;i为X轴采集点数;j为Y轴采集点数;n为采集点数； 

步骤4：对整个扫描面修正后的数据进行傅立叶变换，由近场数据计算出远场数据，近远场变换公式如下： 

。

2.如权利要求1所述的毫米波平面近场测试相位修正方法，其特征在于，所述平面扫描采用三轴运动跟踪仪；所述采集位置及采集时刻由激光跟踪仪获取。