[发明专利]一种用于正负离子反应研究的质谱仪系统在审
申请号: | 201310581619.1 | 申请日: | 2013-11-19 |
公开(公告)号: | CN104658848A | 公开(公告)日: | 2015-05-27 |
发明(设计)人: | 丁航宇 | 申请(专利权)人: | 苏州美实特质谱仪器有限公司 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/42;H01J49/02 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 金辉 |
地址: | 215123 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用于正负离子反应研究的质谱仪系统;包括产生正离子的第一离子源、第一离子光学系统、产生负离子的第二离子源、第二离子光学系统、同时存储正离子和负离子的离子阱、与所述离子阱连接的第一工作电源、可用于检测反应产物的飞行时间质谱仪;从所述第一离子源产生的正离子经所述第一离子光学系统进入所述离子阱,同时从所述第二离子源产生的负离子经所述第二离子光学系统进入所述离子阱中,在所述离子阱中正离子和负离子碰撞化学反应后被第一工作电源产生的脉冲电压逐出所述离子阱进入飞行时间质谱仪作质量分析;解决了气相中的离子难以检测和分辨,而且产生和控制也很困难的问题;从而实现高效准确地研究气相中离子化学反应机理。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 正负 离子 反应 研究 质谱仪 系统 | ||
【主权项】:
一种用于正负离子反应研究的质谱仪系统;其特征在于:包括产生正离子的第一离子源(1)、第一离子光学系统(10)、产生负离子的第二离子源(2)、第二离子光学系统(20)、同时存储正离子和负离子的离子阱(3)、与所述离子阱(3)连接的第一工作电源(30)、可用于检测反应产物的飞行时间质谱仪(4);从所述第一离子源(1)产生的正离子经所述第一离子光学系统(10)进入所述离子阱(3),同时从所述第二离子源(2)产生的负离子经所述第二离子光学系统(20)进入所述离子阱(3)中,在所述离子阱(3)中正离子和负离子碰撞化学反应后被第一工作电源(30)产生的脉冲电压逐出所述离子阱(3)进入飞行时间质谱仪(4)作质量分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州美实特质谱仪器有限公司;,未经苏州美实特质谱仪器有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310581619.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。