[发明专利]重放装置与重放方法

摘要

本发明涉及重放装置与重放方法。提供了一种重放装置，包括：光源；物镜，将发射的光照射到光学记录介质上，并且从光学记录介质的记录表面获得的反射光被入射到物镜上；聚光透镜，会聚反射光；光电检测部，被配置为设定共焦位置为聚光透镜的焦点位置，λ为照射在所述光学记录介质上的光的波长，并且NA为所述物镜的数值孔径，来提取和检测在共焦位置处中心在光轴上的直径小于1.5λ/NA的范围内的光；以及相差提供部，提供来自读出轨道的反射光分量和来自与所述读出轨道相邻的轨道的反射光分量之间的指定的相位差。

主权项

一种重放装置，包括：光源；物镜，将由所述光源发射的光照射到光学记录介质上，并且，根据所照射的光从所述光学记录介质的记录表面获得的反射光入射到所述物镜上；聚光透镜，经由所述物镜获得的所述反射光入射在所述聚光透镜上，所述聚光透镜会聚所述反射光；光接收部，被配置为设定共焦位置为在由所述物镜将由所述光源发射的光聚焦在所述记录表面上时的所述聚光透镜的焦点位置，λ为由所述物镜照射在所述光学记录介质上的光的波长，并且NA为所述物镜的数值孔径的方式，所述光接收部提取并接收在所述共焦位置处中心在光轴上的直径小于1.5λ/NA的范围内的光，所述光为在所述共焦位置处的所述反射光的中心光；以及相差提供部，被插入在从所述光源到所述光接收部的光路上，提供来自形成在所述光学记录介质的所述记录表面上的轨道中的读出轨道的反射光分量和来自与所述读出轨道相邻的轨道的反射光分量之间的指定的相位差。