[发明专利]重放装置与重放方法无效

专利信息
申请号: 201310571834.3 申请日: 2013-11-13
公开(公告)号: CN103839557A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 齐藤公博 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 重放 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种重放装置,包括:

光源;

物镜,将由所述光源发射的光照射到光学记录介质上,并且,根据所照射的光从所述光学记录介质的记录表面获得的反射光入射到所述物镜上;

聚光透镜,经由所述物镜获得的所述反射光入射在所述聚光透镜上,所述聚光透镜会聚所述反射光;

光接收部,被配置为设定共焦位置为在由所述物镜将由所述光源发射的光聚焦在所述记录表面上时的所述聚光透镜的焦点位置,λ为由所述物镜照射在所述光学记录介质上的光的波长,并且NA为所述物镜的数值孔径的方式,所述光接收部提取并接收在所述共焦位置处中心在光轴上的直径小于1.5λ/NA的范围内的光,所述光为在所述共焦位置处的所述反射光的中心光;以及

相差提供部,被插入在从所述光源到所述光接收部的光路上,提供来自形成在所述光学记录介质的所述记录表面上的轨道中的读出轨道的反射光分量和来自与所述读出轨道相邻的轨道的反射光分量之间的指定的相位差。

2.根据权利要求1所述的重放装置,其中

所述光接收部通过设置在所述共焦位置处的小孔提取所述反射光的所述中心光。

3.根据权利要求1所述的重放装置,其中

设定在所述记录表面上形成深度小于λ/6的凹槽,并且在所述凹槽与设置在所述凹槽之间的槽脊上均形成记录标记序列,并且此外,

设定向外路径为从由所述光源发射至照射在所述光学记录介质上的光路,并且返回路径为从被所述光学记录介质反射至被所述光接收部接收的光路,所述相差提供部被插入在将相位差提供给在所述向外路径和所述返回路径中的仅一个上的光的位置。

4.根据权利要求3所述的重放装置,其中

所述相差提供部以总相位差变成λ/3的方式被配置,所述总相位差由从所述凹槽反射的光和从所述槽脊反射的光之间产生的相位差以及由所述相差提供部提供的来自所述凹槽的反射光分量和来自所述槽脊的反射光分量之间的相位差构成。

5.根据权利要求3所述的重放装置,其中

所述相差提供部被配置为能够改变在来自所述凹槽的反射光分量和来自所述槽脊的反射光分量之间提供的相位差,并且

所述相差提供部被装配有控制器,所述控制器以在来自所述凹槽的反射光分量和来自所述槽脊的反射光分量之间提供的所述相位差在读出所述凹槽时和读出所述槽脊时之间发生变化的方式控制所述相差提供部。

6.根据权利要求3所述的重放装置,其中

所述相差提供部被插入在将相位差仅提供给所述向外路径和所述返回路径中的所述返回路径上的光的位置。

7.根据权利要求1所述的重放装置,其中,在所述光学记录介质内,

记录标记序列在所述记录表面上的相同平面上以同心圆形或螺旋形形成,并且

设定向外路径为从由所述光源发射至照射到所述光学记录介质上的光路,并且返回路径为从被所述光学记录介质反射至被所述光接收部接收的光路,所述相差提供部被插入在将相位差提供给在所述向外路径和所述返回路径这两者上的光的位置。

8.根据权利要求7所述的重放装置,其中

所述相差提供部被配置为将λ/6的相位差提供给入射光。

9.根据权利要求1所述的重放装置,其中

所述光接收部通过位于所述共焦位置且尺寸小于1.5λ/NA的光传感器接收所述反射光的中心光。

10.根据权利要求1所述的重放装置,其中,所述相差提供部为能够根据控制信号改变所述相位差的部件。

11.一种用于重放装置的重放方法,在所述重放装置中,通过物镜将由光源发射的光照射在光学记录介质上,并且根据照射光从所述光学记录介质的记录表面获得的反射光由聚光透镜会聚并且由光接收部接收,所述重放方法包括:

在从所述光源到所述光接收部的光路上,提供来自形成在所述光学记录介质的所述记录表面上的轨道中的读出轨道的反射光分量和来自与所述读出轨道相邻的轨道的反射光分量之间的指定的相位差;以及

设定共焦位置为在由所述物镜将由所述光源发射的光聚焦在所述记录表面上时的所述聚光透镜的焦点位置,λ为由所述物镜照射在所述光学记录介质上的光的波长,并且NA为所述物镜的数值孔径,提取并接收在所述共焦位置处中心在光轴上的直径小于1.5λ/NA的范围内的光,所述光为在所述共焦位置处的所述反射光的中心光。

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