[发明专利]用于测量介质的光学性质的测量装置

摘要

本发明涉及一种用于测量介质的光学性质的测量装置，包括：用于发射光的至少第一光源和第二光源；用于接收至少具有第一接收波长和第二接收波长的光的至少一个光接收器；用于使光弯曲和/或折射的至少一个色散元件；其中，由所述光源发射的光撞击所述色散元件并且由所述色散元件转向，使得光撞击所述光接收器，其特征在于所述第一光源相对于所述色散元件以第一角度布置，并且所述第二光源相对于所述色散元件以第二角度布置，其中，所述第二角度不同于所述第一角度，其中，所述第一角度被实施为使得由所述色散元件转向的光的波长对应于所述第一接收波长，并且其中，所述第二角度被实施为使得由所述色散元件转向的光的波长对应于所述第二接收波长。

主权项

一种用于测量介质（9）的光学性质的测量装置（1），包括：‑至少第一光源（2）和第二光源（3），用于发射光（6、7）；‑至少一个光接收器（5），用于接收至少具有第一接收波长和第二接收波长的光（8）；‑至少一个色散元件（4），用于使光弯曲和/或折射；其中，由所述光源（2、3）发射的光（6、7）撞击所述色散元件（4）并且由所述色散元件（4）转向，使得光撞击所述光接收器（5），其特征在于，所述第一光源（2）相对于所述色散元件（4）以第一角度（α）布置，并且所述第二光源（3）相对于所述色散元件（4）以第二角度（β）布置，其中，所述第二角度（β）不同于所述第一角度（α），其中，所述第一角度（α）被实施为使得由所述色散元件（4）转向的光（8）的波长对应于所述第一接收波长，以及其中，所述第二角度（β）被实施为使得由所述色散元件（4）转向的光（8）的波长对应于所述第二接收波长。