[发明专利]用于测量介质的光学性质的测量装置

权利要求书

1.一种用于测量介质（9）的光学性质的测量装置（1），包括：

-至少第一光源（2）和第二光源（3），用于发射光（6、7）；

-至少一个光接收器（5），用于接收至少具有第一接收波长和第二接收波长的光（8）；

-至少一个色散元件（4），用于使光弯曲和/或折射；

其中，由所述光源（2、3）发射的光（6、7）撞击所述色散元件（4）并且由所述色散元件（4）转向，使得光撞击所述光接收器（5），

其特征在于，

所述第一光源（2）相对于所述色散元件（4）以第一角度（α）布置，并且所述第二光源（3）相对于所述色散元件（4）以第二角度（β）布置，

其中，所述第二角度（β）不同于所述第一角度（α），

其中，所述第一角度（α）被实施为使得由所述色散元件（4）转向的光（8）的波长对应于所述第一接收波长，以及

其中，所述第二角度（β）被实施为使得由所述色散元件（4）转向的光（8）的波长对应于所述第二接收波长。

2.如权利要求1所述的测量装置（1），其特征在于，

所述第一光源（2）和所述第二光源（3）具有相同的发射光谱。

3.如权利要求1或2所述的测量装置（1），其特征在于，

所述第一光源（2）和/或第二光源（3）以宽带方式发射。

4.如权利要求1至3中的至少一项所述的测量装置（1），其特征在于，

所述第一光源（2）和所述第二光源（3）是LED。

5.如权利要求3或4所述的测量装置（1），其特征在于，

所述第一光源（2）和所述第二光源（3）是白色LED。

6.如权利要求1至5中的至少一项所述的测量装置（1），其特征在于，

所述光接收器（5）是宽带光接收器。

7.如权利要求1至6中的至少一项所述的测量装置（1），其特征在于，

所述色散元件（4）是棱镜尤其是色散棱镜、反射光栅、透射光栅、单或双狭缝、光纤束、干涉滤光器、或波长相关镜尤其是二向色镜。

8.如权利要求1至7中的至少一项所述的测量装置（1），其特征在于，

所述测量装置（1）是分光计、光度计或色度计。

9.如权利要求1至8中的至少一项所述的测量装置（1），其特征在于，

在所述第一光源（2）或所述第二光源（3）与所述色散元件（4）之间设置至少一个准直光学元件（11）。

10.如权利要求1至9中的至少一项所述的测量装置（1），其特征在于，

所述第一光源（2）和所述第二光源（3）同时发射。