[发明专利]一种电能质量谐波分析仪的谐波分析方法无效
申请号: | 201310538195.0 | 申请日: | 2011-10-21 |
公开(公告)号: | CN103604989A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 蒋春花 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214200 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明公开了一种在准同步DFT基础上改进实现的电能质量谐波分析仪的谐波分析方法。所述谐波分析方法包括:采样电网中需要进行谐波分析的电信号X,并等间隔采样W+2个采样点数据;应用准同步DFT进行谐波分析时根据信号频率的漂移μ改变频域抽样的位置,即所述频域抽样位置为μ2π/N。计算出所述电信号X的各次谐波的幅值 |
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搜索关键词: | 一种 电能 质量 谐波 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电能质量谐波分析仪的谐波分析方法,其特征在于包括以下步骤:(1)、电能质量谐波分析仪的CPU单元采样电网中需要谐波分析的电信号X,并等间隔采样W+2个采样点数据:{f(i),i=0,1,…,w+1};(2)、CPU单元从所述电信号X的采样点i=0开始应用准同步DFT公式:a k = 2 F ak n = 2 Q Σ i = 0 W γ i f ( i ) cos ( k 2 π N i ) b k = 2 F bk n = 2 Q Σ i = 0 W γ i f ( i ) sin ( k 2 π N i ) , ]]> 分析W+1个数据获得基波信息![]()
然后,CPU单元从所述电信号X的采样点i=1开始应用准同步DFT公式:a k = 2 F ak n = 2 Q Σ i = 1 w + 1 γ i f ( i ) cos ( k 2 π N ( i - 1 ) ) b k = 2 F bk n = 2 Q Σ i = 1 w + 1 γ i f ( i ) sin ( k 2 π N ( i - 1 ) ) , ]]> ,分析W+1个数据获得基波信息
应用公式:μ = N tg - 1 [ F a 0 n ( 1 ) F b 0 n ( 1 ) ] - tg - 1 [ F a 0 n ( 0 ) F b 0 n ( 0 ) ] 2 π , ]]> 计算所述电信号X的频率漂移μ;应用公式:a k = 2 Q Σ i = 0 W γ i f ( i ) cos ( k μ 2 π N i ) b k = 2 Q Σ i = 0 W γ i f ( i ) sin ( k μ 2 π N i ) , ]]> 分别得出所述电信号X的基波和高次谐波的实部ak和虚部bk;(3)、CPU单元分别计算出所述电信号X的基波和高次谐波的幅值p k = a k 2 + b k 2 ]]> 和初相角
(4)、CPU单元分别计算出所述电信号X的高次谐波的幅值Pk与基波P1的幅值百分比
和相角差
并输出显示;频率漂移μ是根据相邻采样点基波相角差与理想周期内采样点数N的固定关系而获得的,频率漂移μ用于修正基波的频率f1和高次谐波的频率fk。
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