[发明专利]一种电能质量谐波分析仪的谐波分析方法无效

专利信息
申请号: 201310538195.0 申请日: 2011-10-21
公开(公告)号: CN103604989A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 蒋春花
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214200 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 电能 质量 谐波 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种电能质量谐波分析仪的谐波分析方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)、电能质量谐波分析仪的CPU单元采样电网中需要谐波分析的电信号X,并等间隔采样W+2个采样点数据:{f(i),i=0,1,…,w+1};

(2)、CPU单元从所述电信号X的采样点i=0开始应用准同步DFT公式:

ak=2Fakn=2QΣi=0Wγif(i)cos(k2πNi)bk=2Fbkn=2QΣi=0Wγif(i)sin(k2πNi),]]>分析W+1个数据获得基波信息

然后,CPU单元从所述电信号X的采样点i=1开始应用准同步DFT公式:

ak=2Fakn=2QΣi=1w+1γif(i)cos(k2πN(i-1))bk=2Fbkn=2QΣi=1w+1γif(i)sin(k2πN(i-1)),]]>,分析W+1个数据获得基波信息

应用公式:μ=Ntg-1[Fa0n(1)Fb0n(1)]-tg-1[Fa0n(0)Fb0n(0)]2π,]]>

计算所述电信号X的频率漂移μ;

应用公式:ak=2QΣi=0Wγif(i)cos(kμ2πNi)bk=2QΣi=0Wγif(i)sin(kμ2πNi),]]>分别得出所述电信号X的基波和高次谐波的实部ak和虚部bk;

(3)、CPU单元分别计算出所述电信号X的基波和高次谐波的幅值pk=ak2+bk2]]>和初相角

(4)、CPU单元分别计算出所述电信号X的高次谐波的幅值Pk与基波P1的幅值百分比和相角差并输出显示;

频率漂移μ是根据相邻采样点基波相角差与理想周期内采样点数N的固定关系而获得的,频率漂移μ用于修正基波的频率f1和高次谐波的频率fk

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