[发明专利]抗侵入式攻击的芯片及其制作方法和攻击检测的方法有效
| 申请号： | 201310470570.2 | 申请日： | 2013-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN103500740B | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 刘忠志;谭洪贺 | 申请（专利权）人： | 昆腾微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100195 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种抗侵入式攻击的芯片及其制作方法和攻击检测的方法。抗侵入式攻击的芯片包括：两个以上接触点，从所述芯片的内部延伸至所述芯片的外表面；导电介质，附着在所述芯片的外表面；检测电路，集成在所述芯片内部，用于检测所述两个以上接触点中的至少两个接触点之间的互联信息，得到参考数据信息，将所述参考数据信息存储在所述芯片的非易失性存储器中，当所述芯片上电后，重新检测所述至少两个接触点之间的互联信息，得到评估数据信息，根据所述参考数据信息和所述评估数据信息，判定所述芯片是否受到侵入式攻击。本发明可以实现芯片自检测封装是否已遭破坏的过程，从而起到抗攻击的作用。 | ||
| 搜索关键词： | 侵入 攻击 芯片 及其 制作方法 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种抗侵入式攻击的芯片，其特征在于，包括：两个以上接触点，从所述芯片的内部延伸至所述芯片的外表面；导电介质，直接地、随机地附着在所述芯片的外表面，所述导电介质覆盖全部或部分接触点；检测电路，集成在所述芯片内部，用于检测所述两个以上接触点中的至少两个接触点之间的互联信息，得到参考数据信息，将所述参考数据信息存储在所述芯片的非易失性存储器中，当所述芯片上电后，重新检测所述至少两个接触点之间的互联信息，得到评估数据信息，根据所述参考数据信息和所述评估数据信息，判定所述芯片是否受到侵入式攻击。
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