[发明专利]测试和测量仪器上的多信号协方差和相关处理在审
申请号: | 201310465987.X | 申请日: | 2013-10-09 |
公开(公告)号: | CN103713174A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | D.F.希尔特纳 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G01R13/02 | 分类号: | G01R13/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 方世栋;王忠忠 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的实施例包括用于生成两个或更多信号的协方差和相关值的方法和仪器。所述协方差或相关值被用于比较所述两个信号的所关心的区间以及基于所述两个信号之间的相似性产生触发事件。参考信号被数字化并且被存储,以及随后被用作当与实时输入信号进行比较时的参考。生成所述输入信号和所述先前存储的参考信号的平均值,以致能够生成适当的协方差和相关值。阈值检测器检测所述协方差值和/或所述相关值何时超过特定的阈值,这能够致使所述测试和测量仪器被触发。 | ||
搜索关键词: | 测试 测量 仪器 信号 协方差 相关 处理 | ||
【主权项】:
一种用于使多个信号相关的方法,所述方法包括:通过测试和测量仪器的输入接收在测试中的信号;计算所述在测试中的信号的平均值;从存储器读取数字参考信号;将所述数字参考信号转换为所述参考信号的模拟表示;至少基于所述在测试中的信号、所述在测试中的信号的所述平均值以及所述参考信号生成第一信号;至少基于所述在测试中的信号和所述在测试中的信号的所述平均值生成第二信号;至少基于所述第一信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的协方差值;以及至少基于所述第一信号和所述第二信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的相关值。
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