[发明专利]测试和测量仪器上的多信号协方差和相关处理

权利要求书

1.一种用于使多个信号相关的方法，所述方法包括：

通过测试和测量仪器的输入接收在测试中的信号；

计算所述在测试中的信号的平均值；

从存储器读取数字参考信号；

将所述数字参考信号转换为所述参考信号的模拟表示；

至少基于所述在测试中的信号、所述在测试中的信号的所述平均值以及所述参考信号生成第一信号；

至少基于所述在测试中的信号和所述在测试中的信号的所述平均值生成第二信号；

至少基于所述第一信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的协方差值；以及

至少基于所述第一信号和所述第二信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的相关值。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，产生所述协方差值包括对所述第一信号进行求和。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，产生所述相关值包括：

对所述第二信号进行求和；

计算所述被求和的第二信号的平方根；以及

将所述协方差值除以所述被求和的第二信号的所述平方根。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，接收包括在第一乘法和平方电路处接收所述在测试中的信号。

5.根据权利要求4所述的方法，进一步包括：

通过第一延迟线延迟所述在测试中的信号；以及

通过第二延迟线延迟所述在测试中的信号；

其中，接收包括在第二乘法和平方电路处接收被所述第一延迟线延迟的所述延迟的信号以及在第三乘法和平方电路处接收被所述第二延迟线延迟的所述延迟的信号。

6.根据权利要求5所述的方法，其中：

生成所述第一信号包括通过所述第一直至第三乘法和平方电路中的每个计算（X-Xbar）乘以（Y-Ybar）；以及

生成所述第二信号包括通过所述第一直至第三乘法和平方电路中的每个计算（X-Xbar）²，

其中，X表示所述在测试中的信号或相应的被延迟的在测试中的信号，Xbar表示所述在测试中的信号的所述平均值，Y表示所述参考信号，以及Ybar表示所述参考信号的平均值。

7.根据权利要求5所述的方法，其中：

生成所述第一信号包括通过所述第一直至第三乘法和平方电路中的每个输出（X-Xbar）乘以（Y-Ybar）；以及

生成所述第二信号包括通过所述第一直至第三乘法和平方电路中的每个输出（X-Xbar）²，

其中，X表示所述在测试中的信号或相应的被延迟的在测试中的信号，Xbar表示所述在测试中的信号的所述平均值，Y表示所述参考信号，以及Ybar表示所述参考信号的平均值。

8.一种测试和测量仪器，包括：

输入,其被配置为接收在测试中的信号；

低通滤波器电路,其被配置为生成所述在测试中的信号的平均值；

存储器,其被配置为存储数字参考信号；

数字到模拟转换器,其被配置为将所述数字参考信号转换为所述参考信号的模拟表示；

多个乘法和平方电路，其被配置为至少基于所述在测试中的信号、所述在测试中的信号的所述平均值以及所述参考信号生成第一信号,以及至少基于所述在测试中的信号和所述在测试中的信号的所述平均值生成第二信号；

第一电路，其被配置为至少基于所述第一信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的协方差值；以及

第二电路，其被配置为至少基于所述第一信号和所述第二信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的相关值。

9.根据权利要求8所述的测试和测量仪器，其中，所述第一电路进一步包括: 第一加法器,其被配置为对所述第一信号进行求和。

10.根据权利要求8所述的测试和测量仪器，其中，所述第二电路进一步包括：

第二加法器,其被配置为对所述第二信号进行求和；

平方根电路，其被配置为计算所述被求和的第二信号的平方根；以及

除法器电路，其被配置为将所述协方差值除以所述被求和的第二信号的所述平方根。