[发明专利]一种永磁体磁通密度温度系数的测试系统在审
| 申请号： | 201310465491.2 | 申请日： | 2013-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN103576104A | 公开（公告）日： | 2014-02-12 |
| 发明（设计）人： | 孙颖莉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 刘诚午 |
| 地址： | 315201 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种永磁体磁通密度温度系数的测试系统，该测试系统包括样品室，内置于样品室的样品台，以及用于检测样品的探测装置，所述样品台带有至少两个样品盛放区，所述测试系统还包括调节探测装置工作位置的调节机构。该测试系统的样品台上具有多个样品盛放区，一次高低温循环过程可以同时对样品台上所有样品盛放区内的样品进行高低温循环，然后依次测量每个样品盛放区内的样品。本发明的永磁体磁通温度系数的测试系统有利于缩短多个样品的测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 永磁体 密度 温度 系数 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种永磁体磁通温度系数的测试系统，包括样品室，内置于样品室的样品台，用于检测样品的探测装置，其特征在于，所述样品台带有至少两个样品盛放区，所述测试系统还包括用于改变探测装置工作位置的调节机构。
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