[发明专利]一种永磁体磁通密度温度系数的测试系统

权利要求书

1.一种永磁体磁通温度系数的测试系统，包括样品室，内置于样品室的样品台，用于检测样品的探测装置，其特征在于，所述样品台带有至少两个样品盛放区，所述测试系统还包括用于改变探测装置工作位置的调节机构。

2.如权利要求1所述的永磁体磁通温度系数的测试系统，其特征在于，所述样品台带有温控机构，所述的测试系统还包括控制装置，所述温控机构以及调节机构均受控于所述控制装置。

3.如权利要求2所述的永磁体磁通温度系数的测试系统，其特征在于，所述的调节机构为带有驱动机构的三维移动架。

4.如权利要求3所述的永磁体磁通温度系数的测试系统，其特征在于，所述探测装置包括：

固定在所述三维移动架上的底座；

设置在所述底座上的支撑件；

安装在支撑件顶部的探测线圈；

与所述探测线圈相连的磁通计，用于采集探测线圈的电压并将采集到的电压传送给控制装置。

5.如权利要求4所述的永磁体磁通温度系数的测试系统，其特征在于，所述支撑件上设有上升限位机构。

6.如权利要求5所述的一种永磁体磁通温度系数的测试系统，其特征在于，所述探测线圈与支撑件为可拆卸连接。

7.如权利要求6所述的永磁体磁通温度系数的测试系统，其特征在于，调节机构处在样品室的下方，所述样品室的底部设有容许探测装置进出的开放区。

8.如权利要求1～7中任一权利要求所述的永磁体磁通温度系数的测试系统，其特征在于，每个样品盛放区各自独立的设有样品座和/或样品槽；所述样品座为环形，所述样品盛放区与样品座的相应位置设有通孔；所述样品槽相对于样品盛放区的顶面下沉设置。