[发明专利]无源器件结构及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201310438676.4 申请日: 2013-09-23
公开(公告)号: CN104465629B 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 唐丽贤;包小燕;董天化;霍燕丽;杜海;黄涛 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64;H01L21/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 屈蘅,李时云
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出一种无源器件结构及其形成方法,在电容结构的表面形成有电荷吸附层,所述电荷吸附层紧贴连接线,所述电荷吸附层能够吸附电荷,在进行后续工艺时,产生的电荷均能够由电荷吸附层将电荷导出,避免电荷聚积在所述电容结构中,从而能够保护电容结构不被损伤,进而能够提高无源器件的性能。
搜索关键词: 无源 器件 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
一种无源器件结构,包括:前层、电容结构、连接线以及层间介质层;其中,所述电容结构形成于所述前层的表面,所述电容结构表面形成有电荷吸附层,所述连接线与所述电容结构电连接,所述电荷吸附层与所述连接线的侧壁紧贴,层间介质层形成于所述前层和电荷吸附层的表面,并隔离所述连接线。
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