[发明专利]无源器件结构及其形成方法有效
申请号: | 201310438676.4 | 申请日: | 2013-09-23 |
公开(公告)号: | CN104465629B | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 唐丽贤;包小燕;董天化;霍燕丽;杜海;黄涛 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L23/64 | 分类号: | H01L23/64;H01L21/02 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 屈蘅,李时云 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出一种无源器件结构及其形成方法,在电容结构的表面形成有电荷吸附层,所述电荷吸附层紧贴连接线,所述电荷吸附层能够吸附电荷,在进行后续工艺时,产生的电荷均能够由电荷吸附层将电荷导出,避免电荷聚积在所述电容结构中,从而能够保护电容结构不被损伤,进而能够提高无源器件的性能。 | ||
搜索关键词: | 无源 器件 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种无源器件结构,包括:前层、电容结构、连接线以及层间介质层;其中,所述电容结构形成于所述前层的表面,所述电容结构表面形成有电荷吸附层,所述连接线与所述电容结构电连接,所述电荷吸附层与所述连接线的侧壁紧贴,层间介质层形成于所述前层和电荷吸附层的表面,并隔离所述连接线。
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