[发明专利]涂层导体Ni-5at.%W合金基带的电化学抛光方法有效
申请号: | 201310419407.3 | 申请日: | 2013-09-13 |
公开(公告)号: | CN103436947A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 彭东辉;朱海;韩婕;吴向阳;徐静安;李志刚;韩坤 | 申请(专利权)人: | 上海化工研究院 |
主分类号: | C25F3/22 | 分类号: | C25F3/22 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 林君如 |
地址: | 200062 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及涂层导体Ni-5at.%W合金基带的电化学抛光方法,以Ni-5at.%W合金基带作为阳极,以纯镍片作为阴极,将Ni-5at.%W合金基带在静态下浸渍于电解抛光液中,开启电源对Ni-5at.%W合金基带进行抛光处理,抛光处理后的合金基带再经去离子水反复冲洗,并用无水乙醇脱水、风机吹干即可,电解抛光液为磷酸、硫酸、乙二醇按体积比为2-4∶3-5∶2-3混合而成的电解抛光液。与现有技术相比,本发明抛光后的合金基带通过原子力显微镜分析,在5×5μm范围内RMS小于1纳米,消除了由RABiTS制备基带产生的晶界沟槽效应,且对原始基带立方织构无影响,满足涂层导体对基带表面平整度的要求。 | ||
搜索关键词: | 涂层 导体 ni at 合金 基带 电化学 抛光 方法 | ||
【主权项】:
涂层导体Ni‑5at.%W合金基带的电化学抛光方法,其特征在于,该方法以Ni‑5at.%W合金基带作为阳极,以纯镍片作为阴极,将Ni‑5at.%W合金基带在静态下浸渍于电解抛光液中,开启电源对Ni‑5at.%W合金基带进行抛光处理,抛光处理后的合金基带再经去离子水反复冲洗,并用无水乙醇脱水、风机吹干即可,所述的电解抛光液为磷酸、硫酸、乙二醇按体积比为2‑4∶3‑5∶2‑3混合而成的电解抛光液。
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