[发明专利]一种同时测量高反镜S和P偏振光反射率的方法

摘要

本发明涉及一种同时测量高反镜对S和P偏振光反射率的方法，将光强周期性调制的连续激光注入稳定初始谐振腔，由探测器探测衰荡信号，通过双指数拟合得到初始谐振腔内S和P偏振光的衰荡时间τ0S和τ0P，计算得到腔镜S和P偏振光的平均反射率R0S和R0P；同样，在初始光学谐振腔两腔镜间根据使用角度放入待测高反镜构成测试光学谐振腔，得到测试腔S和P偏振光的衰荡时间τ1S和τ1P，计算出待测高反镜对S和P偏振光的反射率RXS和RXP。本发明优点：避免了以往测量高反镜反射率未区分S和P偏振态所引起的误差，可以应用任意偏振特性的激光器测量待测高反镜对S和P偏振光的反射率，可以不用起偏器，测量装置简单，测量精度高。

主权项

一种同时测量高反镜S和P偏振光反射率的方法，其特征在于其实现步骤如下：步骤（1）、将光强周期调制的连续激光入射到初始光学谐振腔；所述初始光学谐振腔由两块相同的平凹高反镜凹面相对垂直于光轴放置组成，入射光从第一块平凹高反镜中心透过后垂直入射到第二块平凹高反镜；或初始光学谐振腔由两块相同的平凹高反镜和一块平面高反镜构成，平面高反镜为入射腔镜且倾斜于光轴放置，入射激光束从该平面高反镜透射后垂直入射到垂直于光轴放置的第一块平凹高反镜，激光束被第一块平凹高反镜反射后按原路返回至平面高反镜，然后又被平面高反镜再次反射，反射光垂直入射到第二块平凹高反镜；步骤（2）、从初始光学谐振腔透射的激光由聚焦透镜聚焦到光电探测器，光电探测器探测初始光学谐振腔的衰荡信号，当初始光学谐振腔的衰荡信号幅值超过设定阈值时，触发关断入射激光束，记录初始光学谐振腔的衰荡信号，或者在调制信号的下降沿记录初始光学谐振腔的衰荡信号，通过数据处理得到初始光学谐振腔内S和P偏振光的衰荡时间τ0S和τ0P，进而得到初始光学谐振腔各高反镜对S和P偏振光的平均反射率R0S和R0P；步骤（3）、在初始光学谐振腔内根据待测高反镜的使用角度插入待测高反镜，构成测试光学谐振腔；所述测试光学谐振腔构成具体为：在步骤（1）所述的初始光学谐振腔的两块平凹高反镜之间插入待测高反镜，待测高反镜的入射角为高反镜的使用角度；步骤（4）、从测试光学谐振腔透射的激光束由聚焦透镜聚焦到光电探测器，光电探测器探测衰荡信号，当测试光学谐振腔输出衰荡信号幅值超过设定阈值时，触发关断入射激光束，记录测试光学谐振腔输出的衰荡信号，或者在调制信号的下降沿记录测试光学谐振腔的衰荡信号，通过数据处理得到S和P偏振光在测试光学谐振腔内的衰荡时间τ1S和τ1P，通过计算得待测高反镜对S和P偏振光的反射率RXS和RXP。