[发明专利]基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置无效

专利信息
申请号: 201310409603.2 申请日: 2013-09-10
公开(公告)号: CN103472307A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 董明;陆蔺辉;邵伟;杨菊辉;魏志勇;范玉德;郑海广;高国防;火旭宇 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院化工材料研究所
主分类号: G01R27/14 分类号: G01R27/14
代理公司: 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 代理人: 刘兴亮
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置,包括:为待测电阻提供基准激励的恒流源,用于处理从待测电阻而来的压降信号的信号调理卡,用于采集信号的CPCI采集卡,人机信息交互平台,CPCI计算机;所述恒流源与所述信号调理卡连接;所述信号调理卡与所述CPCI采集卡连接;所述CPCI采集卡与所述人机信息交互平台连接;所述人机信息交互平台与所述CPCI计算机连接。本发明测量精度高,测量精度可达±0.1mΩ;自动化程度高,可实现自动测量、数据自动判定、自动生产测试报表、存档;人机通讯信息丰富,可以录入大量的待测产品信息、测试结果可以图表、文档、动画等形式反馈。
搜索关键词: 基于 cpci 计算机 电阻 高精度 测试 装置
【主权项】:
一种基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置,其特征在于:包括:为待测电阻提供基准激励的恒流源,用于处理从待测电阻而来的压降信号的信号调理卡,用于采集信号的CPCI采集卡,人机信息交互平台,CPCI计算机;所述恒流源与所述信号调理卡连接;所述信号调理卡与所述CPCI采集卡连接;所述CPCI采集卡与所述人机信息交互平台连接;所述人机信息交互平台与所述CPCI计算机连接。
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