[发明专利]基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置无效
| 申请号： | 201310409603.2 | 申请日： | 2013-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN103472307A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 董明;陆蔺辉;邵伟;杨菊辉;魏志勇;范玉德;郑海广;高国防;火旭宇 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院化工材料研究所 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人： | 刘兴亮 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 cpci 计算机 电阻 高精度 测试 装置 | ||
1.一种基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于：包括：为待测电阻提供基准激励的恒流源，用于处理从待测电阻而来的压降信号的信号调理卡，用于采集信号的CPCI采集卡，人机信息交互平台，CPCI计算机；所述恒流源与所述信号调理卡连接；所述信号调理卡与所述CPCI采集卡连接；所述CPCI采集卡与所述人机信息交互平台连接；所述人机信息交互平台与所述CPCI计算机连接。
2.根据权利要求1所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置还包括温湿度传感器，所述温湿度传感器与所述CPCI采集卡连接。
3.根据权利要求1所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的恒流源主要由电压基准和高阻运算放大器组成，所述电压基准与所述高阻运算放大器连接。
4.根据权利要求3所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的电压基准与所述高阻运算放大器构成负反馈电路。
5.根据权利要求1或3或4所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的恒流源内设置有用于控制测试电流大小的自恢复限流保险装置。
6.根据权利要求1所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的信号采集卡内设置有包括第一级放大电路和第二级放大电路在内的至少两级放大电路。
7.根据权利要求6所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的第一级放大电路包括仪用放大器；所述第二级放大电路包括放大和调零功能的OP07运算放大器。
8.根据权利要求7所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的第一级放大电路是差分放大电路，所述差分放大电路包括AD620放大器。
9.根据权利要求1所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的采集卡是16位分辨率采集卡。
10.根据权利要求1所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，其特征在于所述的基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置设置有用于为测试装置供电的电池。
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