[发明专利]一种投影物镜数值孔径测量装置及方法有效
申请号: | 201310390028.6 | 申请日: | 2013-09-01 |
公开(公告)号: | CN103439868A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 陈红丽;邢廷文;林妩媚;廖志杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G01M11/02 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;顾炜 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供一种投影物镜数值孔径的测量装置及方法,包括:物面上放置的小孔阵列,像面上放置的一个可以在xyz向的高精度步进工件台,在工件台上安装波像差测量装置。测量方法包括如下步骤:将小孔阵列放置在物面上;将波前探测器放置在物镜像面位置;设置物镜NA使用照明光束照明掩模;使测试台在Z方向运动,使用波前探测器找到波像差最小的位置;记录下此时的波像差值及坐标位置;改变测试台位置和照明光束,重复前述两步,直到所有视场点的最小WFE值及坐标均被测得;计算投影物镜的数值孔径。使用本发明的一种原位测量投影物镜数值孔径的方法,实现了物镜数值孔径的原位与在线测量,同时测量方法简单、方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 投影 物镜 数值孔径 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种投影物镜数值孔径测量装置,其特征在于包括:小孔阵列,安装在物面支撑单元(104);投影物镜,照明系统出射的光经过小孔阵列投射到投影物镜;工件台,位于物镜的像面,沿xyz向高精度步进;波像差测量装置,安装在工件台上,记录波像差最小的位置(106)处的波像差和偏移波像差最小的位置(106)处的波像差。
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