[发明专利]一种线切碎硅片杂质的处理方法有效

专利信息
申请号: 201310381931.6 申请日: 2013-08-28
公开(公告)号: CN103406344A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 颜玉峰;张冰蕾;付振东;张玉亮;刘存国;闫广宁;李永峰 申请(专利权)人: 河北宁晋松宫半导体有限公司
主分类号: B09B3/00 分类号: B09B3/00
代理公司: 河北东尚律师事务所 13124 代理人: 王文庆
地址: 055550 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种线切碎硅片杂质的处理方法,包括:用马弗炉对碎硅片烘烤1~2小时,烘烤温度550~800摄氏度;烘烤完成后,快速将高温碎硅片取出并用自来水反复冲洗;用浓度10~30%氢氧化铵溶液清洗碎硅片,不断搅拌,时间10~30分钟;清洗完成后,用纯水反复冲洗碎硅片,直至pH试纸测试pH<9为止;将碎硅片放入酸液中浸泡24小时,酸液配比为:HCL:HF:H2O=1:1:1~2;浸泡完成后,用纯水冲洗碎硅片,直至pH试纸测试pH>6为止;将碎硅片放入超声波清洗器中,时间保持20分钟,从超声波清洗器取出碎硅片,用烘箱烘烤20~40小时,烘箱温度设定为100~120摄氏度。本发明易于操作,实现了废硅料的再利用,大大减少了硅材料的浪费,有效降低原材料成本。
搜索关键词: 一种 切碎 硅片 杂质 处理 方法
【主权项】:
一种线切碎硅片杂质的处理方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:S1、用马弗炉对碎硅片烘烤1~2小时,设定烘烤温度为550~800度;S2、烘烤完成后,快速将高温的碎硅片取出并用自来水反复冲洗;S3、冲洗完成后,用浓度10~30%的氢氧化钠碱液清洗碎硅片,清洗过程中不断搅拌,时间控制在10~30分钟;清洗完成后,用纯水反复冲洗碎硅片,直至PH试纸测试PH<9为止;S4、将碱液清洗后的碎硅片放入酸液中浸泡24小时,酸液配比为:HCL:HF:H2O=1:1:1~2;浸泡完成后,用纯水冲洗碎硅片,直至PH试纸测试PH>6为止;S5、将酸液清洗后的碎硅片放入超声波清洗器中进行超声波清洗,时间保持20分钟;从超声波清洗器中取出碎硅片,用烘箱烘烤20~40小时,烘箱温度设定为100~120度。
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