[发明专利]在制品测量采样方法及装置

摘要

本发明公开了一种在制品测量采样方法A、产品的一批在制品从当前制造机台到达测量机台后，获取当前制造机台的产品CPK、当前制造机台样品检测率和预先设置的特定采样率；B、根据当前制造机台样品检测率是否达到特定采样率，判断是否需要将该批在制品送入测量机台进行测量；如果达到特定采样率，则执行C；否则执行D；C、将该批在制品送入测量机台进行测量，接收测量机台反馈的测量数据，根据所述测量数据计算CPK，并更新当前制造机台的产品CPK；同时根据测量信息，更新当前制造机台样品检测率；D、跳过该测量机台执行后续工序，同时根据未测量信息，更新当前制造机台样品检测率。能够在兼顾各项指标的情况下，动态监测生产状况。

主权项

一种在制品测量采样方法，该方法包括：步骤A、产品的一批在制品从当前制造机台到达测量机台后，制造执行系统MES获取当前制造机台的产品制程能力指数CPK、当前制造机台样品检测率和预先设置的特定采样率；步骤B、MES根据当前制造机台样品检测率是否达到特定采样率，判断是否需要将该批在制品送入测量机台进行测量；如果达到特定采样率，则执行步骤C；如果未达到特定采样率，则执行步骤D；步骤C、将该批在制品送入测量机台进行测量，接收测量机台反馈的测量数据，根据所述测量数据计算CPK，并更新当前制造机台的产品CPK；同时根据测量信息，更新当前制造机台样品检测率；步骤D、跳过该测量机台执行后续工序，同时根据未测量信息，更新当前制造机台样品检测率；其中，产品的一批在制品从当前制造机台到达测量机台后，MES还获取该产品的当前在制品总量；该方法还包括：如果MES未能获取到预先设置的特定采样率，MES根据该产品的当前在制品总量，判断是否需要将该批在制品送入测量机台进行测量；如果该产品的当前在制品总量小于等于第一预定值，则需要将该批在制品送入测量机台进行测量，然后重复执行所述步骤C；如果该产品的当前在制品总量小于等于第二预定值，且大于第一预定值，则进一步根据当前制造机台样品检测率是否达到当前制造机台的产品CPK的值所对应的预定样品检测率，判断是否需要将该批在制品送入测量机台进行测量；如果达到预定样品检测率，则重复执行所述步骤C；如果未达到预定样品检测率，则重复执行所述步骤D；其中，CPK值越大，对应的预定样品检测率越小。