[发明专利]用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法及设备

摘要

本发明公开了一种用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法及设备，首先通过测试在磁场作用下基准件相对基准线偏转的高度，将基准件相对基准线偏转的高度作为测试基准，然后在磁场下检测待测产品时，将待测产品相对于基准线偏转的高度与基准件相对于基准线偏转的高度进行比较得出待测产品的磁偏角合格与否的结论；优点是操作简单，成本较低，且可以对未充磁的瓦片状磁性元件（取向成型后）进行检测，可实现瓦片状磁体元件的磁偏角的全检，保证整批次的瓦片状磁性元件的磁偏角的合格率。

主权项

一种用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法，其特征在于包括以下步骤：①选取一个磁偏角为合格范围的上限值的未充磁的瓦片状磁体元件作为基准件；②将基准件放置在一块由非导磁材料制成的水平板上，基准件的凹面朝上且左右两端保持水平，将此时左右两端的顶点的连接线设定为基准线；③在基准件的正上方施加垂直向下或向上的磁场，基准件的左端或者右端发生偏转向上翘起；④检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度；⑤取下基准件；⑥将未充磁的瓦片状磁体元件待测产品凹面朝上放置在水平板上，待测产品的左右两端位于基准线上，对待测产品施加垂直向下的磁场；⑦检测待测产品向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度，将待测产品相对于基准线偏转的高度与基准件相对于基准线偏转的高度进行比较，如果待测产品相对于基准线偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度，则该待测产品的磁偏角合格，反之不合格；⑧重复步骤⑥和⑦，对一批次的待测产品进行检测。