[发明专利]用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法及设备

权利要求书

1.一种用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法，其特征在于包括以下步骤：

①选取一个磁偏角为合格范围的上限值的未充磁的瓦片状磁体元件作为基准件；

②将基准件放置在一块由非导磁材料制成的水平板上，基准件的凹面朝上且左右两端保持水平，将此时左右两端的顶点的连接线设定为基准线；

③在基准件的正上方施加垂直向下或向上的磁场，基准件的左端或者右端发生偏转向上翘起；

④检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度；

⑤取下基准件；

⑥将未充磁的瓦片状磁体元件待测产品凹面朝上放置在水平板上，待测产品的左右两端位于基准线上，对待测产品施加垂直向下的磁场；

⑦检测待测产品向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度，将待测产品相对于基准线偏转的高度与基准件相对于基准线偏转的高度进行比较，如果待测产品相对于基准线偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度，则该待测产品的磁偏角合格，反之不合格；

⑧重复步骤⑥和⑦，对一批次的待测产品进行检测。

2.根据权利要求1所述的用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法，其特征在于所述的步骤④中采用光栅检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转高度，所述的步骤④之后所述的步骤⑤之前还有测试基板的设置步骤，具体为：在基准件向上翘起的一端的顶点处设置一测试基板，所述的测试基板的下端面为水平面且与基准件向上翘起的一端的顶点位于一个水平面上，当待测产品向上翘起的一端的顶点低于所述的测试基板的下端面时，表示待测产品相对于基准线偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度，当待测产品向上翘起的一端的顶点与所述的测试基板的下端面接触时，表示待测产品相对于基准线偏转的高度大于基准件相对于基准线偏转的高度。

3.一种使用权利要求1所述的用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法的设备，其特征在于包括水平板、测试基板和垂直向下的磁场，所述的磁场位于所述的水平板的正上方，所述的测试基板设置在所述的水平板的正上方且高度可调，所述的测试基板的下端面为水平面。

4.根据权利要求3所述的一种用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的设备，其特征在于所述的测试基板处设置有光栅及声光报警装置，所述的光栅与所述的声光报警装置连接，在磁场作用下，当待测产品的一端向上翘起与所述的测试基板的下端面接触时，所述的声光报警装置报警，显示待测产品不合格，当待测产品的一端向上翘起后与所述的测试基板的下端面不接触时，所述的声光报警装置不报警，显示待测产品不合格。