[发明专利]在多结构高分子表面制备ZnO 阵列的方法有效

专利信息
申请号: 201310310268.0 申请日: 2013-07-23
公开(公告)号: CN103408060A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 王磊;郑咏梅 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: C01G9/02 分类号: C01G9/02
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 姜荣丽
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种在多结构高分子表面制备ZnO阵列的方法,属于界面化学领域。所述方法包括缓冲材料的制备,基底材料表面的修饰以及二者结合后ZnO阵列的生长的步骤。本发明解决了ZnO和高分子表面的结合问题,实现了良好的实验重复性;解决了高分子和无机ZnO材料的结合问题,可以在多种高分子材料表面实现制备;本发明的制备周期短,可以实现大规模生产。
搜索关键词: 结构 高分子 表面 制备 zno 阵列 方法
【主权项】:
一种在多结构高分子表面制备ZnO阵列的方法,其特征在于:包括以下几个步骤:第一步,缓冲材料的制备:将含石墨材料和醋酸锌溶液进行混合,保证含石墨材料表面吸附有醋酸锌;干燥后转入马弗炉内高温煅烧;取出后,通过球磨机将其粉碎成纳米级颗粒;第二步,基底材料表面的修饰:将需要生长ZnO的基底材料和缓冲材料进行混合,基底材料表面即得到修饰;第三步,制备ZnO阵列:将修饰后的基底材料放入到反应釜中,将含有Zn2+的生长液放入反应釜;反应釜升温至85‑90℃,保温反应10‑12 h,在基底材料表面得到规则的ZnO阵列结构。
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