[发明专利]内嵌栅接地NMOS触发的可控硅瞬态电压抑制器有效

专利信息
申请号: 201310292850.9 申请日: 2013-07-12
公开(公告)号: CN103390618A 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 董树荣;钟雷;曾杰;郭维 申请(专利权)人: 江苏艾伦摩尔微电子科技有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/792;H01L23/60
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215300 江苏省苏州市昆*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种内嵌栅接地NMOS触发的可控硅瞬态电压抑制器,包括P型衬底,所述P型衬底上沿横向设置有N阱,在所述N阱和P型衬底上未设N阱的区域中,沿横向依次设有第一N+注入区、第一P+注入区、第三N+注入区、多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区;所述第一N+注入区和第一P+注入区设置在N阱上,所述第三N+注入区的两端分别跨设在N阱和P型衬底未设N阱的区域上,所述多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区设置在P型衬底上未设N阱的区域;所述多晶硅栅、第二N+注入区和第三N+注入区在P型衬底上构成NMOS结构;所述第一N+注入区、第一P+注入区和第三N+注入区均接入电学阳极,所述多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区均接入电学阴极。
搜索关键词: 内嵌栅 接地 nmos 触发 可控硅 瞬态 电压 抑制器
【主权项】:
一种内嵌栅接地NMOS触发的可控硅瞬态电压抑制器,包括P型衬底,所述P型衬底上沿横向设置有N阱,其特征在于:在所述N阱和P型衬底上未设N阱的区域中,沿横向依次设有第一N+注入区、第一P+注入区、第三N+注入区、多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区;其中,所述第一N+注入区和第一P+注入区设置在N阱上,所述第三N+注入区的两端分别跨设在N阱和P型衬底未设N阱的区域上,所述多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区设置在P型衬底上未设N阱的区域;所述多晶硅栅、第二N+注入区和第三N+注入区在P型衬底上构成NMOS结构;所述第一N+注入区、第一P+注入区和第三N+注入区均接入电学阳极,所述多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区均接入电学阴极。
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