[发明专利]触控IC模拟前端自测的内建架构及测试方法

摘要

本发明揭示了一种触控IC模拟前端灵敏放大器、滤波器、多路选择器及ADC自测的内建架构及测试方法。其内建架构包括多路开关S1、S2，开关S3、S4，片上电容C，驱动信号产生模块，多路的灵敏放大器和滤波器，多路选择器，ADC以及自测控制模块。在自测试系统工作时，多路开关S1和开关S4断开，切断触控IC驱动通路以及所有传感引脚输入通路；多路开关S2和开关S3接通；驱动信号经注入片上电容C传递、再经放大、滤波后送入多路选择器，在控制下多路选择器选择合适信号送入ADC采样，ADC采样数据送入自测控制模块并进行优化的最小二乘法线性拟合操作，最终输出拟合结果。本发明集成灵敏放大器，滤波器，多路选择器及ADC测试于一体，测试效率提升及成本优化显著。

主权项

1.触控IC模拟前端自测的内建架构，其特征在于：所述内建架构集成于触控IC内侧的驱动端及M路传感引脚输入端之间，其包括片上电容C、驱动信号产生模块、多路放大滤波组，多路选择器、ADC以及自测控制模块，所述片上电容C的一端连接开关S3的一端，开关S3的另一端接驱动信号产生模块并通过开关S4接触控IC的驱动端，片上电容C的另一端连接多路开关S2的单路端，多路开关S2的多路端接多路放大滤波组并通过多路开关S1接触控IC的M路传感引脚输入端；所述自测控制模块包含输出放大倍数X控制多路放大滤波组的N路选择器和N位计数器，输出测试通路选择信号控制多路选择器的M位独热码，一个根据ADC数据输入、当前放大倍数Xi和测试通路选择信号得到测试结果的最小二乘法线性拟合器，以及一个分别连接并控制N位计数器、M位独热码和最小二乘法线性拟合器的控制状态机，所述最小二乘法线性拟合器的测试结果为：斜率，偏移量，放大倍数X为一组大小为N的等差数列，放大倍数Xi为等差数列中的一个常数，Yi为对应放大倍数Xi时的ADC输出。